Porous silicon thin films with metallic nanoparticles on insulator subtrates

Obukhova, Tetyana; Dusheiko, Mykhailo; Borodinova, T. I.

doi:10.1109/elnano.2015.7146853

Cited by 2 publications

(1 citation statement)

References 3 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…За результатами атомно-силової мікроскопії (АСМ) поверхні зразків пористого кремнію на сапфірі та полікорі, яка була виконана за допомогою мікроскопу Solver PRO-M, було показано, що шари мають різну кристалічну орієнтацію [9]. На зразках на полікорі помітні характерні для орієнтації (111) трикутники (рис.…”

Section: морфологія поверхні пористих шарівunclassified

Features of photoluminescence and transmission spectra of thin film porous silicon layers on insulator substrates

Dusheiko¹,

Koltsov²,

Obukhova³

2017

Mìkrosist. elektron. akust.

View full text Add to dashboard Cite

Кафедра Мікроелектроніки ФЕЛ Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» kpi.ua Київ, Україна Реферат-В роботі проведено дослідження спектрів пропускання і фотолюмінісценції шарів пористого кремнію отриманих хімічним травленням з тонких плівок кремнію на основах з полі кору та сапфіру. Показано що характер спектру поглинання таких структур залежить як від умов отримання плівок кремнію так і від матеріалу основи. В результаті дослідження спектрів фотолюмінісценції що збуджувалась УФ-випромінюванням (285 нм) показано, що окрім характерних для пористого кремнію піків в області 600-700 нм в тонких шарах пористого кремнію спостерігаються піки в короткохвильовій області. Бібл. 13, рис. 8. Ключові словапористий кремній; фотолюмінесценція; хімічне травлення; спектр; тонкі плівки.

show abstract

Section: морфологія поверхні пористих шарівunclassified