2009
DOI: 10.1063/1.3261759
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

An impedance spectroscopic investigation of the electrical properties of δ-doped diamond structures

Abstract: Impedance spectroscopy has been used to investigate the conductivity displayed by diamond doped with boron in an intrinsic-δ-layer-intrinsic multilayer system with differing δ-layer thicknesses. Carrier transport within 5 nm δ-layer structures is complex, being dominated by conduction in the interfacial regions between the δ-layer and the intrinsic regions, as well as conduction within the δ-layer itself. In the case of 3.2 nm thick δ-layers the situation appears improved with uncapped samples supporting only … Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1

Citation Types

0
2
0
1

Year Published

2011
2011
2017
2017

Publication Types

Select...
5

Relationship

1
4

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(3 citation statements)
references
References 31 publications
0
2
0
1
Order By: Relevance
“…Однако большие значения энергии активации примеси создают проблемы получения легированных слоев с необходимыми для полупроводниковых приборов свойствами. Поэтому мно-гими группами [2][3][4][5][6][7][8][9] ведутся исследовательские работы по изучению возможности получения эпитаксиальных пленок алмаза электронного и дырочного типов про-водимости при комнатной температуре. С этой целью применяется сильное легирование, которое позволя-ет существенно снизить энергию активации примеси.…”
Section: Introductionunclassified
“…Однако большие значения энергии активации примеси создают проблемы получения легированных слоев с необходимыми для полупроводниковых приборов свойствами. Поэтому мно-гими группами [2][3][4][5][6][7][8][9] ведутся исследовательские работы по изучению возможности получения эпитаксиальных пленок алмаза электронного и дырочного типов про-водимости при комнатной температуре. С этой целью применяется сильное легирование, которое позволя-ет существенно снизить энергию активации примеси.…”
Section: Introductionunclassified
“…We note that conduction in parallel channels in delta layers was first invoked to explain impedance spectroscopy results [18].…”
Section: Multi-carrier Modelmentioning
confidence: 99%
“…Applying these boundary conditions, one can determine that the required delta layer profile with B peak comparable to the metal-insulator transition has thickness <1 nm [17]. It is expected that a percentage of the holes confined in the ground state of the delta layer where the mobility is low due to ionized impurity scattering [16], are either thermally excited into higher energy subbands in the potential well, or ideally into bulk states with very little wavefunction overlap with the doped layer [18]. The expectation is that there will be a direct device benefit from an enhancement in mobility for nanometer thickness delta-layers.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%