ResumoO presente trabalho tem como objetivo promover, através da técnica de elipsometria, a caracterização de propriedades ópticas e dielétricas do nióbio metálico e, além disto, medir a espessura dos filmes finos de óxido de nióbio formados. Devido a grande variedade de aplicações em importantes setores, o nióbio se tornou um elemento de grande importância para o desenvolvimento tecnológico em áreas estratégicas e o Brasil destaca-se neste contexto por deter as maiores reservas mundiais. Logo, conhecer o máximo de informações sobre este material é de grande importância para direcionar estudos às aplicações tecnológicas a fim de se agregar valor ao nióbio e seus compostos. Após a realização das medidas de parâmetros elipsométricos, e modelagem apropriadas, foram geradas satisfatoriamente as propriedades ópticas e dielétricas do material. Sendo também medida a espessura do óxido formado de forma natural sobre o substrato de nióbio metálico. Palavras-chave: Nióbio; Óxido de nióbio; Elipsometria. ELLIPSOMETRIC CHARACTERIZATION OF METALLIC NIOBIUM AbstractThis study aims to promote, through the ellipsometry technique, the characterization of metallic niobium optical and dielectric properties and, in addition, to measure the formed thin niobium oxide films thickness. Due to the wide variety of applications in important sectors, niobium has become an element of great significance to the technological development in strategic areas and Brazil stands out in this context by detaining the largest reserves. Therefore, to know as much information as possible about this material is of great importance to direct researches to technological applications in order to add value to the niobium and its compounds. After the achievement of ellipsometry measurements and modelling, it has been satisfactorily generated the optical properties of the material. And also measured the thickness of the naturally formed oxide on niobium metal substrate.
Resumo O emprego das ligas de Ti-Nb ganha cada vez mais destaque, devido a sua elevada biocompatibilidade, relação resistência mecânica/peso, e excepcional resistência à corrosão quando comparada a outros materiais metálicos. Neste trabalho é aplicada a técnica de elipsometria para se caracterizar as propriedades ópticas de um sistema binário Ti-Nb, sendo também possível medir a espessura da camada de óxido. A partir das medidas de parâmetros elipsométricos e a correta modelagem dos dados foi possível obter as curvas de dispersão do índice de refração (n) e do coeficiente de extinção (k) em função do comprimento de onda. Além disso foi obtida a espessura da camada do óxido sobre o substrato da liga.
Resumo Neste presente estudo foi utilizada a técnica de elipsometria espectroscópica a fim de se caracterizar as propriedades ópticas do filme fino de óxido anódico de Titânio formado espontaneamente. As propriedades desse óxido são relevantes consideradas as diversas aplicações do titânio, dentre as quais as biológicas. A elipsometria é uma técnica não destrutiva, porém indireta, apropriada para obtenção de propriedades ópticas e dielétricas, após modelagem. Usando essa técnica, obtivemos além das propriedades ópticas, a espessura do óxido formado de forma natural sobre o substrato de Titânio. Palavras-chave: Titânio; Óxido de titânio; Elipsometria STUDY OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE THIN FILM OF TITANIUM ANODIC OXIDE BY ELLIPSOMETRY Abstract In this present study, the spectroscopic ellipsometry technique was used in order to characterize the optical properties of the spontaneous titanium anodic oxide thin film. The properties of this oxide are relevant considering the various applications of titanium, among which the biological ones. Ellipsometry is a non-destructive, but indirect, technique suitable for obtaining optical and dielectric properties, after modeling. Using this technique, we obtained besides the optical properties, the thickness of the oxide formed of natural form on the substrate of Titanium.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
hi@scite.ai
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
Copyright © 2024 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.