In the present work, electroactive grain boundaries of highly dense metal oxide SnO2-based polycrystalline varistors were determined by electrostatic force microscopy (EFM). The EFM technique was applied to identify electroactive grain boundaries and thus estimate the amount of active grain boundary, which, in the metal oxide SnO2-based varistor, was calculated at around 85%, i.e., much higher than that found in traditional metal oxide ZnO-based varistors. The mean potential barrier height value obtained from the EFM analysis was in complete agreement with the values calculated from the C-V measurements, together with a complex capacitance plane analysis that validates the methodology proposed here.
A new method for high-resolution analyses of hair surface charge density under ambient conditions is presented in this paper. Electrostatic force microscopy (EFM) is used here to analyze changes in surface charge density in virgin hair, bleached hair, and hair treated with a cationic polymer. The atomic force microscopy technique is used concomitantly to analyze morphological changes in hair roughness and thickness. The EFM images depict exactly how the polymer is distributed on the surface of the hair fiber. The EFM's powerful analytical tools enabled us to evaluate the varying degrees of interaction between the hair fiber surface charge density and the cationic polymer. The surface charge density and the polymer's distribution in the hair fibers are presented in the light of EFM measurements.
O uso de microondas no processamento e obtenção de materiais tem adquirido nos últimos anos crescente interesse por parte de diversas áreas do conhecimento como a química e a engenharia de materiais. Neste sentido, aparatos especialmente projetados têm começado a ser descritos na literatura como reatores e câmaras de processamento a microondas visando aplicação na pesquisa e na indústria. Em particular o uso de fornos de microondas domésticos em atividades científicas tem se mostrado de interesse dado uma série de novas aplicações, simplicidade e baixo custo. O presente trabalho reporta um dispositivo desenvolvido a partir de um forno de microondas doméstico, capaz de efetuar sínteses e processamentos de sólidos mesmo quando os materiais envolvidos não possuem susceptibilidade as microondas. O novo dispositivo tem sido utilizado com sucesso na síntese de óxidos metálicos e, em especial na sinterização e ordenamento de redes cristalinas de filmes finos.
ResumoFilmes finos de SrBi 2 Ta 2 O 9 foram depositados em substratos de Pt/Ti/SiO 2 /Si e, pela primeira vez, sinterizados em forno microondas doméstico. Os padrões de difração de raios X mostraram que os filmes são policristalinos. O processamento por microondas permite utilizar baixa temperatura na síntese e obter filmes com boas propriedades elétricas. Ensaios de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e de Força Atômica (MFA) revelam boa aderência entre filme e substrato, com microestrutura de superfície apresentando grãos finos e esféricos e rugosidade de 4,7 nm. A constante dielétrica e o fator de dissipação, para freqüência de 100 KHz, à temperatura ambiente, foram de 77 e 0,04, respectivamente. A polarização remanescente (2P r ) e o campo coercitivo (E c ) foram 1,04 µC/cm 2 e 33 kV/cm. O comportamento da densidade de corrente de fuga revela três mecanismos de condução: linear, ôhmico e outro mecanismo que pode ser atribuído à corrente de Schottky. Dos padrões de DRX, análises das imagens por MEV e topografia de superfície por MFA observa-se que 10 min de tratamento térmico a 550 ºC, em forno microondas, é tempo suficiente para se obter a cristalização do filme. Palavras-chave: filmes finos, SBT, ferroelétrico, cristalização, microondas.
Abstract
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