2019
DOI: 10.31651/2076-5851-2018-1-50-59
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Structural State of Electrodeposited Copper Layers

Abstract: 64.70.kd, 82.40.ck, 66.30.Ny СТРУКТУРНИЙ СТАН ГАЛЬВАНООСАДЖЕНИХ ПРОШАРКІВ МІДІ * Методами рентгенівського дифракційного аналізу досліджено мікроструктуру прошарків міді, що отримані електроосадженням міді в стаціонарному, реверсному імпульсному та стохастичному режимах на мідні підкладки. Встановлено суттєвий вплив форми струму на текстуру осаджених прошарків міді. Було встановлено, що більш просторово однорідну структуру має осад, що отриманий в реверсному імпульсному режимі електроосадження. За постійного ст… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
2
0

Year Published

2022
2022
2022
2022

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(3 citation statements)
references
References 2 publications
0
2
0
Order By: Relevance
“…The visualization of the undistorted interphase boundaries and defect boundaries became possible after the procedure of ion-plasma cleaning of the annealed samples. Pretreatment of SEM images was carried out by Gaussian and Unsharp blurring methods according to the procedures described in [31]. In Ref.…”
Section: Characteristic Sem Images Of the Contact Area After Annealingmentioning
confidence: 99%
See 1 more Smart Citation
“…The visualization of the undistorted interphase boundaries and defect boundaries became possible after the procedure of ion-plasma cleaning of the annealed samples. Pretreatment of SEM images was carried out by Gaussian and Unsharp blurring methods according to the procedures described in [31]. In Ref.…”
Section: Characteristic Sem Images Of the Contact Area After Annealingmentioning
confidence: 99%
“…In Ref. [31], algorithms for pretreatment images using appropriate matrix filters have been developed to improve the identification of the boundaries of structural elements, analysis of different types of structural elements (calculating the phase areas and finding the number and calculating the size of structural defects). The presence of white noise in SEM images affects the determination of boundary positions of structural elements of the diffusion zone.…”
Section: Characteristic Sem Images Of the Contact Area After Annealingmentioning
confidence: 99%
“…Вказано, що модифікація поверхневих прошарків міді за допомогою гальваноосадження чи SMAT обробки поверхні впливає на швидкість росту фаз Cu3Sn та Cu6Sn5. В роботі [3] досліджено особливості гальваноосаджених прошарків міді за допомогою дифракаційного аналізу, показано вплив режимів електроосадження на структкрний стан поверхні міді. Але дифракційний аналіз дозволяє зробити висновки лише про області когерентного розсіювання [4,5], а не про реальні розміри та будову зерен гальваноосадженої міді.…”
unclassified