The aim of this paper is to present a new and original method for on‐chip measurements of very high frequency parasitic signals where a sampling circuit is directly included in the test chip. The paper describes the usefulness of this sensor for measuring signal propagation and cross‐talk glitch on integrated circuit interconnects and also gives the results obtained experimentally.
Mis en ligne le 22 février 2002.
RésuméCet article présente une expérience pédagogique dans le domaine de la microélectronique, basée sur un ensemble d'outils spécifiques illustrant par simulation interactive le fonctionnement des circuits intégrés de très hautes performances. Les outils de base sont décrits : un didacticiel sur les dispositifs élémentaires intégrés, un éditeur et simulateur au niveau physique, intégrant un compilateur de cellules, enfin un éditeur et simulateur au niveau logique. Divers exemples de travaux pratiques sont donnés, pouvant être exécutés directement depuis ce fichier.
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