El objetivo de esta experiencia fue implementar un sistema de evaluación formativa que permitiese a los profesores universitarios implicados desarrollar un proceso de reflexión crítica sobre sus propias actuaciones docentes (autoevaluación) antes y después de recibir el feedback de sus colegas (co-evaluación). Se realizaron observaciones sin intervención durante 6 sesiones de una hora utilizando un registro de observación en 6 asignaturas. Para los docentes evaluados, todos ellos expertos, el implicarse en procesos de autoevaluación y, sobre todo, el diálogo entre pares supone un estímulo a la reflexión (auto)crítica y al crecimiento profesional. En el futuro se propone ampliar esta experiencia en el número de observadores y los tiempos de observación. Por último, entendemos que este tipo de evaluación potenciaría su valor formativo si pudiese transferirse a profesores noveles interesados en la mejora de sus competencias docentes.

Los ensayos realizados durante las prácticas de laboratorio de las asignaturas de Ciencia, Tecnología e Ingeniería de Materiales en los Grados de Ingeniería Industrial e Ingeniería Aeroespacial de la Universidad de León, son desarrollados en laboratorios con un número limitado de equipos y con el apoyo de las explicaciones orales del profesor. En consecuencia, la interacción del estudiante con el equipamiento del laboratorio es mínima, limitándose a tomar nota de las explicaciones para posteriormente realizar un cuestionario en el Moodle. Por ello, en este trabajo se propone suplir esta carencia con la implementación de laboratorios virtuales. En particular, se han desarrollado e incorporado en las asignaturas dos aplicaciones interactivas para la realización de las prácticas experimentales de Microscopía Óptica y Ensayos de Dureza. Los resultados obtenidos ponen de relieve la importancia de esta herramienta en cuanto al aprendizaje autónomo y la consolidación de los conceptos teóricos adquiridos por parte del estudiante y destacan la relevancia de la autoevaluación para la mejora de su rendimiento académico.

ResumenSe presenta una propuesta de aplicación de la metodología CTMTC para evaluar de forma más objetiva el trabajo en equipo que se desarrolla en una asignatura en el ámbito de la ingeniería de fabricación. La aplicación de esta metodología permite evaluar no sólo el resultado del trabajo final sino también las aportaciones y grado de compromiso de cada miembro del grupo. Además, se define un esquema de seguimiento del trabajo a lo largo del cuatrimestre, con hitos y entregables claves para realizar una verdadera evaluación formativa y garantizando la adquisición de competencias. La evaluación final se compone de una nota referente al trabajo grupal que es corregida por la nota del rendimiento individual de cada estudiante. ContextualizaciónLa experiencia se está desarrollando actualmente en el curso académico 2016/17. La asignatura donde se está aplicando se denomina Fabricación Integrada, correspondiente al 4º curso del grado en Ingeniería Mecánica. Se trata de una asignatura optativa con 55 alumnos. Este número de alumnos ha forzado a que nos hayamos planteado formas alternativas de realizar el seguimiento del trabajo de los alumnos y de evaluar los resultados, ya que con los métodos que se venían aplicando no se evaluaba correctamente con un grupo tan numeroso. Se trata de una asignatura eminentemente práctica, donde los alumnos trabajan casi la totalidad de las horas de clase delante del ordenador resolviendo casos prácticos. Diseño y desarrolloTradicionalmente, la forma de evaluar el trabajo de los alumnos era mediante una prueba individual junto con un trabajo en equipo. Con el nuevo planteamiento se ha decidido potenciar el trabajo en equipo en detrimento de la prueba individual, que ha quedado suprimida. Obviamente, ha sido necesario implementar un nuevo sistema de seguimiento, valoración y evaluación del trabajo que asegure una nota justa a cada estudiante y la adquisición de competencias.La primera diferencia con el esquema anterior es que el tamaño de los grupos ha pasado de 3 (o menos) miembros a 5, pues se ha tratado de generar un grupo con suficientes interacciones como sucede en la práctica real en la ingeniería.La segunda diferencia con respecto a cursos anteriores es que se ha diseñado un proceso de desarrollo y seguimiento del trabajo con puntos de control planificados en tiempo y entregables. De esta forma se puede realizar una evaluación formativa real (López-Pastor, 2012). Las fases de desarrollo son: creación del grupo, definición de misión y objetivos (coordinador, objetivos y normativa de funcionamiento), planificación del trabajo, desarrollo del trabajo y documentación. Para cada una de estas fases se han definido hitos y entregables que los grupos deben cumplir escrupulosamente. Evaluación y conclusionesSe han programado tres puntos de control: (a) al final de la fase de planificación, con una reunión del profesor con cada grupo, valorando el planteamiento previo al desarrollo del trabajo; (b) a mitad del desarrollo del trabajo, con una presentación breve ante el profesor y el resto...

Se han caracterizado capas de óxidos subestequiométricos de silicio (SiO x ) y estructuras gruesas de guías de onda mediante elipsometría espectral. Para ello ha sido necesario desarrollar un método de ajuste que permita analizar en detalle espectros complicados de elipsometría, como los obtenidos en estructuras multicapa gruesas (~10 µm) típicas de dispositivos modernos de óptica integrada. La elipsometría es la técnica más adecuada para la caracterización detallada de esas estructuras, pero la extracción mediante ajuste de los parámetros deseados es a menudo impracticable con los métodos usuales. Nuestro méto-do se basa en parametrizar las constantes ópticas desconocidas con funciones spline. El método es aplicable tanto a materiales con una variación suave de las constantes ópticas como a materiales que presenten estructuras agudas debidas a transiciones electrónicas en el rango de energía analizado.Palabras clave: elipsometría, simulación numérica, propiedades ópticas, capas gruesas, subóxidos de silicio. Structural characterisation of SiO 2 based multilayers using spectroscopic ellipsometryWe have characterised PECVD-grown non-stoichiometric silicon oxides (SiO x ) and thick waveguide structures based on these materials with spectroscopic ellipsometry. We have developed a fit method that allows detailed analysis of complicated ellipsometric spectra, such as those of thick (~10 µm) multilayer structures found in modern integrated optics devices. Ellipsometry should be the natural choice for thorough nondestructive characterisation of those heterostructures, but extraction of the required parameters is often impracticable by common approaches. Our fit procedure is based in spline parametrisations of the unknown optical functions and is applicable to materials either with a smooth optical response or displaying sharp electronic transitions in the analysed energy range.Keywords: Ellipsometry, numerical simulation, optical properties, thick layers, silicon suboxides. INTRODUCCIÓNLas diversas tecnologías relacionadas con la microelectróni-ca tratan de forma habitual con heteroestructuras complejas de multicapas semiconductoras y aislantes. Por ejemplo, en la fabricación de dispositivos ópticos integrados, las estructuras típicas constan de varias capas y alcanzan un espesor total alrededor de 10 µm. En la fase de desarrollo de dichos dispositivos, las estructuras completas suelen caracterizarse mediante técnicas de análisis destructivas. El proceso de crecimiento de la multicapa se optimiza caracterizando capas individuales depositadas sobre obleas auxiliares o de control. Como técnica no invasiva se usa con frecuencia la reflectometría óptica que tan sólo permite una comprobación global de la calidad de la estructura depositada. Es por tanto muy deseable disponer de una técnica de análisis no destructiva que permita una caracterización detallada de la estructura depositada, determinando espesor, composición e índices de refracción de las distintas capas.La elipsometría espectral es a priori la técnica no destruc...