Структура, диэлектрические и оптические свойства c-ориентированных пленок SBN-50, выращенных на подложке Pt/Al-=SUB=-2-=/SUB=-O-=SUB=-3-=/SUB=-

Abstract

Studies of the structure, dielectric and optical properties of thin films of a relaxor ferroelectric Ba_0.5Sr_0.5Nb_2O_6 grown on Pt(111)/Al_2O_3 (c-cut) substrate by high-frequency RF-sputtering in oxygen atmosphere, were performed. X-ray diffraction studies showed that Ba_0.5Sr_0.5Nb_2O_6 films are c-oriented. The unit cell parameters in the tetragonal approximation were c = 3.949(1) Å and a = 12.38(1) Å. It was established that the ferroelectric–paraelectric phase-transition temperature rises and optical anisotropy increases in the object in comparison with the bulk material. Reasons for the elucidated regularities are discussed.

Получение, структура и диэлектрические характеристики монокристаллов и тонких пленок Sr-=SUB=-0.61-=/SUB=-Ba-=SUB=-0.39-=/SUB=-Nb-=SUB=-2-=/SUB=-O-=SUB=-6-=/SUB=-

“…В сравнении с монокристаллическим образцом решетка SBN-61/(001)MgO практически не деформирована в плоскости сопряжения с подложкой, но вытянута в направлении полярной оси. Ранее нами было показано, что в случае c-ориентированных пленок SBN-50/Pt/Al 2 O 3 более низкие деформационные эффекты приводят к росту T d и снижению величины показателя преломления луча [16]. Это позволяет ожидать в гетероструктурах SBN-61/(001)MgO, в частности, усиления оптической анизотропии и смещения фазового перехода СЭ → ПЭ в более высокотемпературную область.…”

Деформация Элементарной Ячейки При Прерывистом Напылении Пленок Ниобата Бария-Стронция

“…Получение толстых пленок с увеличенной деформацией с использованием технологии прерывистого напыления возможно, однако толщина каждого слоя не должна превышать критическую (толщина первого слоя). Опираясь на полученные нами ранее результаты исследования тонких пленок SBN-50 [12], можно ожидать значительных изменений их оптических и электрофизических свойств из-за существенного увеличения деформации элементарной ячейки. На исследование этих изменений и будет направлена наша дальнейшая работа.…”