“…Коэффициенты поглощения света a-Ge : H и a-Si : H для длины волны 1250 nm составляют около 16 000 [13] и 10 cm −1 [14] соответственно, а следовательно, увеличение интенсивности ИЛО на длине волны 1250 nm может привести как к абляции a-Ge : H, так и к недостаточному нагреву слоя a-Si : H из-за низкого коэффициента поглощения, что не вызывает впоследствии роста сигнала КРС от твердого раствора Ge−Si. Ранее в работе [6] при наносекундном ИЛО на длине волны излучения 694 nm были зафиксированы кристаллизация слоев a-Ge : H и отсутствие фазовых изменений в слоях a-Si : H, а также увеличение интенсивности сигнала КРС от твердого раствора Ge−Si с ростом плотности энергии лазерных импульсов. Это отличие можно объяснить тем, что для длины волны 694 nm коэффициенты поглощения a-Ge : H и a-Si : H составляют 88 000 [12] и 47 400 cm −1 [13], что, напротив, может привести к значительному нагреву слоев с последующим их смешиванием.…”