AgGaSc, thin films a e r o prrpared hy flash evaporat,ion on { 11 I } A-oriented GaAs S I I~Istrates and investigated by reflection high energy electron diffraction (RH EEj)). Epitaxial growth takes place in the substrate temperature interval of T, = 845-920 K. The azimuthal orientation of the deposit, on the substrate is discussed, supposing a AgGaSc, c/n ratio of 1.82. T t is shown t,hat detection of twin formation in the films is possible froin ILH.EF:I) measurcmcnts in the (21 1 ) azimut,hs wit,h respect tlo t,ho substrat,r.Jliirch Flash-Verdampfimg wiirden diinnc AgGaSe,-Schichten aiif { I 1 I } A-orienticrtcn GaAs-Substraten abgeschieden und mittels Keflexionselektronerihengiing (RH EEI)) iirrtersucht. I m Substrattemperatnrbereich T, = 845 -920 K waren die erhaltenen Bchicht'en opitaktisch mit der Unterlage verwachsen. Unter Reriicksichtignng des c/n-Verhiiltnisscs von 1,82 fiir AgGaSe, werdon die azimutalen 1)epositorientier~irigen diskiitiert. Es wird gozeigt,, (la13 ails HHEl3D-l)iagrammen, die im < 21 1 )-Azimnt, hcziiglich dcs Sitbst>rats crhaltrn wurdcn, AgGa~Sc,-Zwillinge nachgewicsrn werdrn kijnncn. HOIUO, W. : Thin Solid Films 52, 45 (1978)