Refractive-index dispersion and optical-absorption edge of physically vapor-deposited films of the As35S65 chalcogenide glass

Ramírez-Malo, J.B.; Márquez, E.; Villares, P.; Jiménez‐Garay, R.

doi:10.1016/0167-577x(93)90120-m

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“…(7). Where, the values of T Mo and T mo are known, one can optically characterize the non-uniform chalcogenide films by the applying the procedure corresponding to uniform film [19][20][21][22][23][24][25][26][27][28].…”

Section: Theoretical Considerationsmentioning

confidence: 99%

Optical properties of Ge–Se–Te wedge-shaped films by using only transmission spectra

Aly

2009

Journal of Non-Crystalline Solids

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Section: Theoretical Considerationsmentioning

confidence: 99%

Optical properties of Ge–Se–Te wedge-shaped films by using only transmission spectra

Aly

2009

Journal of Non-Crystalline Solids

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“…It is observed that the grain size increases continuously with increased film thickness and reached a maximum value of 44.6 nm for a thickness of 320 nm. Similar thickness dependence of the microstructural parameters on the deposition of other materials has been reported [22,23]. The variation of % transmittance (T%) with wavelength was studied for the ZnTe films of different thicknesses and is shown in Fig.…”

Section: Resultsmentioning

confidence: 76%

“…3 presents the optical transmittance spectra of the ZnTe films of different thickness. The refractive index was calculated using the interference maxima and minima observed at a wavelength from the transmission spectra by the envelope method [22,23] employing the following equations: where n s is the refractive index of the substrate, T max and T min are the maximum and minimum transmittances at the same wavelength in the fitted envelope curve on a transmittance spectrum.…”

Section: Thickness (Nm)mentioning

confidence: 99%

Effect of thickness on the microstructural, optoelectronic and morphological properties of electron beam evaporated ZnTe films

Balu

Nagarethinam

Thayumanavan

et al. 2010

Journal of Alloys and Compounds

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“…asImIsmo, el espesor se deTermInó Como el promedIo de aquellos Valores lIsTados en la Columna d 1 . el sIgnIfICado de Todos los parámeTros que apareCen en la Tabla, esTá explICado Con Todo deTalle en oTros Trabajos de esTos mIsmos auTores (15,16). …”

Section: Fundamentos Teoricosunclassified

“…La Ec. [3] permite determinar, además, el correspondiente espesor de la lámina, d. Todos los detalles sobre la aplicación práctica del algoritmo utilizado para el cálculo del índice de refracción y del espesor de las muestras en estudio, pueden encontrarse detalladamente explicados en anteriores publicaciones de los autores (15,16). Asimismo, en la tabla I se recogen los resultados de la aplicación de este algoritmo, para la muestra dopada de composición química Ag 16.5 As 27.6 S 55.…”

Section: Fundamentos Teoricosunclassified

Influencia del contenido metálico sobre las constantes ópticas de laminas delgadas amorfas de composición As<sub>33</sub>S<sub>67</sub> fotodopadas con Ag

González-Leal¹,

Wagner²,

Bernal-Oliva³

et al. 2000

Bol. Soc. Esp. Ceram. Vidr.

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Se han preparado láminas delgadas amorfas calcogenuras de composición Ag x (As 0.33 S 0.67 ) 100-x , mediante el fenómeno fotoinducido conocido como fotodisolución o fotodopaje, alcanzándose concentraciones de Ag en las muestras de hasta un 16.5 % at. Las constantes ópticas de las láminas fotodopadas, se han determinado haciendo uso de un método de caracterización basado en las envolventes de los espectros de transmisión óptica obtenidos en incidencia normal. El análisis de la dispersión del índice de refracción se ha realizado siguiendo el modelo propuesto por Wemple-DiDomenico, basado en la aproximación del oscilador armónico simple. Este modelo ha permitido obtener información estructural de las láminas fotodopadas, a partir de los resultados ópticos. El borde de absorción óptica de las láminas fotodopadas se ha analizado sobre la base del modelo de transición no directa propuesto por Tauc, encontrando una disminución del gap óptico del producto fotodopado, con el contenido de plata. Palabras clave: semiconductores amorfos, vidrios calcogenuros, láminas delgadas, constantes ópticas, efectos fotoinducidos.Influence of the metal content in the optical constants of silver-photodoped As 33 S 67 amorphous thin films Ag x (As 0.33 S 0.67 ) 100-x amorphous chalcogenide thin films have been prepared by the process of photodissolution or photodoping, reaching silver concentrations of up to 16.5 at. %. The optical constants of the photodoped thin-film samples have been calculated from the envelopes of the transmission spectra, taken at normal incidence. The dispersion of the refractive index was analysed on the basis of the single-oscillator model proposed by Wemple and DiDomenico. This model allows obtaining structural information of the silver-photodoped layers from optical data. The optical absorption edge is described using the non-direct transition model suggested by Tauc, and a clear decrease of the optical gap of the photodoped product, with the silver content, has been found.Keywords: amorphous semiconductors, chalcogenide glasses, thin films, optical constants, photoinduced effects. INTRODUCCION.Los materiales calcogenuros amorfos resultan de gran interés dada la variedad de efectos fotoinducidos que muestran. Entre ellos, podemos citar los siguientes: fotovaporización, fotopolimerización, fotovitrificación y fotodisolución de ciertos metales (habitualmente Ag y Zn) (1-3). Todos ellos dan lugar a cambios en las constantes ópticas, así como a desplazamientos del borde de absorción (fotooscurecimiento o fotoaclarado) de estos materiales (4). El más atractivo de cara a sus posibles aplicaciones tecnológicas en el campo del registro óptico y en la fabricación de dispositivos ópticos difractivos es, sin duda, el fenómeno de la fotodisolución de metales, también denominado fotodopaje (1,5). Este fenómeno consiste en la incorporación de iones metálicos en el seno del material calcogenuro, mediante la exposición a radiación de energía cercana al valor del gap óptico del material (usualmente luz ultravioleta) (1,6). Au...

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Influencia del contenido metálico sobre las constantes ópticas de laminas delgadas amorfas de composición As<sub>33</sub>S<sub>67</sub> fotodopadas con Ag

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