2000 IEEE International Symposium on Circuits and Systems. Emerging Technologies for the 21st Century. Proceedings (IEEE Cat No
DOI: 10.1109/iscas.2000.856283
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Performance limits of planar and multi-layer integrated inductors

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“…One drawback with this approach is the lower self-resonant frequency resulting from the large feedthrough capacitance between the layers [70].…”
Section: H Ow D O W E Im Plem Ent Stacked Inductors?mentioning
confidence: 99%
“…One drawback with this approach is the lower self-resonant frequency resulting from the large feedthrough capacitance between the layers [70].…”
Section: H Ow D O W E Im Plem Ent Stacked Inductors?mentioning
confidence: 99%
“…Realizar a análise completa da qualidade dos indutores envolve a fabricação e a caracterização das estruturas, entretanto, o fluxo de projeto completo é oneroso e demanda tempo. Considerando, por exemplo, o processo tecnológico de fabricação disponível para este trabalho AMS CMOS 0,35 µm e BiCMOS 0,35 µm, apenas o tempo de entrega dos circuitos é de no mínimo três meses.Atualmente os projetistas fazem uso de ferramentas computacionais, que auxiliam as etapas de projeto, otimização e concepção de novas estruturas, essas ferramentas são basicamente de dois tipos, baseadas em modelos físicos, utilizando expressões fechadas para derivar e extrair os elementos e os efeitos dos indutores passivos, como as expressões apresentadas no capítulo anterior, um exemplo desse tipo de ferramenta é o SISP (Spiral Inductor Simulation Program) desenvolvido em C++ para a extração rápida dos elementos de um modelo de circuito equivalente de duas portas (Y Koutsoyannopoulos et al, 1997),. entre os principais elementos estão a resistência e a indutância em série, as capacitâncias formadas entre os condutores em paralelo e pelas espiras e o substrato.…”
unclassified