Optimising test sets for RF components with a defect-oriented approach

Abstract

ISBN: 0780386566This paper is aimed at studying defect-oriented test techniques for RF components in order to optimize production test sets. This study is mandatory for the definition of an efficient test flow strategy. We have carried out a fault simulation campaign for a low-noise amplifier (LNA) for reducing a test set while maintaining high fault coverage. The set of production test measurements should include low-cost structural tests such as simple current consumption and only a few more sophisticated tests dedicated to functional specifications such as S parameters, noise figure (NF) or IP3

Strategic Test Cost Reduction with On-Chip Measurement Circuitry for RF Transceiver Front-Ends - An Overview

“…Another challenge in the fault modeling of analog circuits is to determine the correlation of the defects with the acceptable specification range. Extensive simulations are required because the goal of defect-oriented test is to replace specification-based measurements that require more expensive instrumentation and longer test time, which was done for s-parameters and noise figure measurements in [21]. Results from continued development of defect modeling and simulation models present an increasing incentive to save cost by optimizing test time and reducing test set-up complexity.…”

Defect-based test optimization for analog/RF circuits for near-zero DPPM applications

“…Defect models used in literature are usually small resistances for shorts and very large resistances for open circuits [7], [8], [6]. Although simple, most of the time these models may not provide the desired accuracy to observe the true behavior of the defects.…”

“…Physical defects have typically been modeled with extremely simplistic circuit behavior [6], [7], [8] , namely as open and short catastrophic defects having a fixed resistance value typically on the order of 1MΩ and 1Ω respectively [7]. Presently, more sophisticated models of various defects have been proposed in [9], where S-parameters of defects are extracted using an electromagnetic simulator.…”

Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας Και Διόρθωσης Επιδόσεων Τηλεπικοινωνιακών Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων Υψηλών Συχνοτήτων

“…Τα σημειακά ελαττώματα αποτελούν τον κυριότερο παράγοντα που προκαλεί απώλεια κατασκευαστικής απόδοσης σε ώριμες διεργασίες κατά τη φάση της μαζικής παραγωγής[51][52][53][54], και για το λόγο αυτό θα μας απασχολήσουν ιδιαίτερα στην παρούσα εργασία.Παρά την ανάπτυξη πολύπλοκων μοντέλων για την περιγραφή των διάφορων ελαττωμάτων φυσικής προέλευσης σε αναλογικά/RF κυκλώματα (όπου οι S-παράμετροι των ελαττωμάτων εξάγονται με τη χρήση ηλεκτρομαγνητικών προσομοιωτών[55]), για την περιγραφή ελαττωμάτων που προκαλούνται από σημειακές ατέλειες χρησιμοποιούνται απλά μοντέλα ανοικτοκυκλωμάτων / βραχυκυκλωμάτων, όπως υποδεικνύει το Σχήμα 3.8. Οι σημειακές ατέλειες που προκαλούν βραχυκυκλώματα ή γεφυρώματα μπορούν να προσομοιωθούν με αντιστάσεις (R s στο Σχήμα 3.8) της τάξης του 1Ω, ενώ τα ανοικτοκυκλώματα με αντιστάσεις της τάξης των 10ΜΩ (R ο στο Σχήμα 3.8) ή χωρητικότητες (C o στο Σχήμα 3.8) της τάξης του 1fF, ανάλογα με το σημείο του κυκλώματος όπου εμφανίζεται η ατέλεια[37,41,[56][57][58][59][60]. Πρόσφατα, η αυθαίρετη επιλογή τιμών για τις πιο πάνω αντιστάσεις τείνει να αντικατασταθεί από κατανομές πιθανότητας[46,61], προκειμένου να εξασφαλισθεί μια πιο ακριβής και αξιόπιστη προσέγγιση.…”