2008
DOI: 10.12693/aphyspola.114.1131
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Multilayered ZnO Films of Improved Quality Deposited by Magnetron Sputtering

Abstract: Multilayered ZnO films were deposited by rf magnetron sputtering on silicon and sapphire substrates. The aim of this work is to improve structural quality of ZnO thin films grown on just listed substrates. Presented X-ray diffraction data testify to remarkable relaxation of compressive stress in twoand three-layered ZnO films in comparison with single-layer one.

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1
1
1

Citation Types

1
18
0
2

Year Published

2010
2010
2018
2018

Publication Types

Select...
8
1

Relationship

1
8

Authors

Journals

citations
Cited by 27 publications
(21 citation statements)
references
References 8 publications
1
18
0
2
Order By: Relevance
“…The distance from the target to the substrate was fixed at 40 mm. The discharge power was 200 W. In order to obtain perfect films, layer-by-layer deposition method was used [7,8]. The deposition time was 60 min for all samples.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…The distance from the target to the substrate was fixed at 40 mm. The discharge power was 200 W. In order to obtain perfect films, layer-by-layer deposition method was used [7,8]. The deposition time was 60 min for all samples.…”
Section: Methodsmentioning
confidence: 99%
“…Раніше досліджувався вплив на властивості легованих алюмінієм плівок ZnO: (і) технологічних параметрів магнетронного осадження ( температура підкладки [15], тиски кисню [16] та аргону [17], потужність магнетрону [18], ( іі) технологічних прийомів осадження (подвійне легування [19], вибір катодної системи [20], створення багатошарових плівок [21,22], підготовки поверхні [23] тощо) та (ііі) термічного відпалу щойно вирощених плівок [24,25]. Для покращення властивостей плівок ZnO, осаджених на різні типи підкладок, нами був запропонований в високочастотному (ВЧ) МР метод пошарового (постадійного) росту [26,27].…”
Section: вступunclassified
“…Площа останніх становила 1,4 % від робочої площі мішені. Пошаровий ріст плівок ZnO:Al запропонованим нами методом [26,27] проводили в 3 етапи, кожний з яких складався зі стадії осадження плівки протягом 2 хвилин та зі стадії технологічної зупинки росту протягом 2 хвилин. Для виявлення впливу методу пошарового росту на властивості легованих алюмінієм плівок ZnO були напилені плівки легованого оксиду традиційним одноетапним безперервним методом в ВЧ МР протягом 6 хвилин.…”
Section: виготовлення зразківunclassified
“…As the growth of ZnO nanowires by MOCVD is a bottom-up technique, the nature of substrates has a vital role for the dimension and alignment of the nanowires. According to lattice misfit, the most suitable substrate for ZnO growth is ScAlMgO 4 , which is expensive and technologically inconvenient (Ievtushenko et al, 2008). On the other hand, it is difficult to obtain well-aligned ZnO nanowires on silicon substrates, because the formation of an interfacial layer (SiO 2 ) and large lattice misfit (Liou et al, 2005).…”
Section: Nanowire Growthmentioning
confidence: 99%