“…Кроме того, поскольку α-Sn является полупроводником с инвертиро-ванной зонной структурой, вариация содержания олова в сплавах дает значительно больший диапазон ширин запрещенной зоны, которые могут быть использованы в приборах на основе твердых растворов SiGeSn, по сравнению с приборами на SiGe. На данный момент имеется множество работ экспериментального характе-ра, посвященных формированию тройных соединений SiGeSn [10][11][12][13], измерению оптических свойств этих полупроводников [13][14][15][16][17] и изготовлению отдельных приборных структур с использованием рассматриваемых твердых растворов [18][19][20]. Существуют теоретические работы, посвященные моделированию зонной структуры как напряженных, так и релаксированных [5,6] тройных соединений.…”