Nous avons mis au point une méthode très précise de mesure du déplacement par électromigration des atomes dans des rubans métalliques. Elle est basée sur le marquage isotopique, l'autoradiographie et le comptage de la radioactivité à travers une fente. L'incertitude relative sur le seul déplacement est égale à 1 %. La méthode a été testée avec succès sur l'électromigration dans l'indium en couche mince. La mobilité a pu ainsi être mesurée entre 100 et 150°C où elle suit la loi d'Arrhénius : µT = 3,69 x 1021 exp(- 2,00/kT) V-1.cm 2.s-1.K