Fe-Ni and Fe-Ni-Gd films are studied by high voltage Lorentz microscopy in varying in-plane applied magnetic fields. Pilms evaporated a t small angles of incidence contained magnetization ripple, low-angle Bloch walls, 180" cross-tie wa11s, and in some areas gradually varying magnetization directions. The behaviour of the cross-tie walls in applied fields, particularly the creation and annihilation of cross-ties and Bloch lines, enables the structure of the walls to be determined in more detail than before. In particular, it is concluded that the component of magnetization normal to the film plane is in the same direction a t all the singularities. Fe-Ni-und Fe-Ni-Gd-Schichten werden mittels Lorentzmikroskopie in einem 1 MV-Elektronenmikroskop untersucht. Wahrend der Untersuchung erfolgt eine Veranderung des in der Schichtebene angelegten Magnetfeldes. Dabei wird gefunden, daB Schichten, die unter einem kleinen Einfallswinkel aufgedampft werden, Magnetisierungsrippel, Kleinwinkelblochwhde, 180"-Stachelwilnde und in einigen Gebieten sich nach und nach veriindernde Magnetisierungsrichtungen zeigen. Das Verhalten der StachelwLnde im angelegten Feld, besonders das Auftauchen und Verschwinden einzelner Stacheln und ,,Bloch-Linien", ermoglicht eineg enauere Bestimmung der Wandstruktur, insbesondere die SchluBfolgerung, da8 die Magnetisierungskomponenten senkrecht zur Schichtebene an allen Singularititen dieselbe Richtung haben. 1) Parks Road, Oxford OX1 3PH, England. 2) On leave from Institute of Physics, University of L,6di, Nowotki 149/153, 90-236 U d i , Poland.