Advanced system for CMOS SOI test structures measurements

Composition and principle of formation of standard evaluation circuit as simulator of gate arrays and semicustom very large scale IC based on them for radiation tests

“…At the same time it is necessary to consider that if the range of parameters of digital components of GA is rather limited (functional control, the levels of logic zero and one, current consumption, input current), then for analog components it is very wide (table). [11][12][13][14].…”

“…При этом следует учитывать, что если состав ПКГ цифровых узлов БМК довольно ограничен (функциональный контроль, уровни логических нуля и единицы, ток потребления, входной ток), то для аналоговых узлов БМК состав ПКГ весьма разнообразен (см. таблицу) [11][12][13][14].…”