2016
DOI: 10.1002/pssc.201510232
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Acceptor states in HgCdTe films grown by molecular‐beam epitaxy on GaAs and Si substrates

Abstract: A study of defects in HgCdTe films grown by molecular‐beam epitaxy on GaAs and Si substrates was performed. Variable‐temperature photoluminescence (PL) and carrier lifetime measurements were carried out on as‐grown films and films subjected to post‐growth annealings. Films grown on GaAs substrates appeared to be mostly free from defects providing energy states within the bandgap, yet specific acceptor states were generated in these films under conditions associated with mercury deficiency. The properties of fi… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2

Citation Types

0
3
0
1

Year Published

2018
2018
2022
2022

Publication Types

Select...
4

Relationship

0
4

Authors

Journals

citations
Cited by 4 publications
(4 citation statements)
references
References 17 publications
0
3
0
1
Order By: Relevance
“…Вакансии ртути упоминаются во многих работах (см., например, [16][17][18][19][20]), однако консенсуса в отношении спектра дырочных состояний для таких акцепторов, в том числе и энергий ионизации A 0 2 -центра и A −1 2 -центра, в настоящее время нет, как и детальной теории, аккуратно описывающей спектр состояний " двухзарядовых" центров. Анализ спектров поглощения в полупроводниках с двухзарядовыми центрами представляет значительную сложность в силу необходимости нахождения парциальных концентраций носителей заряда на разных состояниях таких центров, что является сложной задачей, требующей дополнительных экспериментальных данных и их анализа, как, например, для двойных доноров в кремнии [21], где энергия связи центров много меньше ширины запрещенной зоны и задача является униполярной.…”
Section: Introductionunclassified
“…Вакансии ртути упоминаются во многих работах (см., например, [16][17][18][19][20]), однако консенсуса в отношении спектра дырочных состояний для таких акцепторов, в том числе и энергий ионизации A 0 2 -центра и A −1 2 -центра, в настоящее время нет, как и детальной теории, аккуратно описывающей спектр состояний " двухзарядовых" центров. Анализ спектров поглощения в полупроводниках с двухзарядовыми центрами представляет значительную сложность в силу необходимости нахождения парциальных концентраций носителей заряда на разных состояниях таких центров, что является сложной задачей, требующей дополнительных экспериментальных данных и их анализа, как, например, для двойных доноров в кремнии [21], где энергия связи центров много меньше ширины запрещенной зоны и задача является униполярной.…”
Section: Introductionunclassified
“…Mercury vacancies are mentioned in many papers (see, for example, [16][17][18][19][20]), but currently there is no consensus on the spectrum of hole states for such acceptors, including ionization energies A 0 2 -center and A −1 2 -center, as also is no detailed theory that accurately describes the spectrum of states of " two-charge" centers. The analysis of absorption spectra in semiconductors with two-charge centers is of considerable complexity due to the need to find partial concentrations of charge carriers at different states of such centers, which is a complex problem requiring additional experimental data and their analysis, as, for example, for double donors in silicon [21], where the bond energy of the centers much smaller than the band gap and the problem is unipolar.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…The next cycle of works at the Ioffe Institute was primarily devoted to the study of acceptors in MBE-grown MCT [91][92][93][94][95]. One of the reasons for this study was the development of the p + -n-type photodiodes, which are characterized by much lower dark currents than their n +p counterparts.…”
mentioning
confidence: 99%
“…10. Temperature dependence of the relation of intensity of PL interband recombination line I(c-v) to that of a transition to a deep acceptor levelI(c-A) for two as-grown MCT/Si films with x ~ 0.4 (replotted using the data from Ref [95]…”
mentioning
confidence: 99%