difração de raios X (XRD) é uma poderosa técnica não destrutiva de caracterizaçãode materiais cristalinos. Ela fornece informações a respeito das estruturas, das fases, daorientação dos cristais em uma amostra, além de outros parâmetros estruturais, comotamanho médio de grão, cristalinidade, tensão e defeitos do cristal. Os picos de difração deraios X são produzidos pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raiosX espalhados em ângulos específicos, a partir do conjunto de planos atômicos em umadada rede cristalina na amostra. O padrão de difração de raios X obtido (difratograma)é a impressão digital dos arranjos atômicos periódicos em um determinado material.Este artigo abordará um resumo sobre a técnica de difração de raios X, a instrumentaçãoutilizada, a preparação de amostras e algumas aplicações industriais atuais, relacionadasàs áreas de fármacos, aplicações geológicas, microeletrônica e análise de corrosão.
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.