2020
DOI: 10.19142/rpq.v14i27.577
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A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura Cristalina de Materiais

Abstract: difração de raios X (XRD) é uma poderosa técnica não destrutiva de caracterizaçãode materiais cristalinos. Ela fornece informações a respeito das estruturas, das fases, daorientação dos cristais em uma amostra, além de outros parâmetros estruturais, comotamanho médio de grão, cristalinidade, tensão e defeitos do cristal. Os picos de difração deraios X são produzidos pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raiosX espalhados em ângulos específicos, a partir do conjunto de planos atômicos em u… Show more

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“…Ao medir os ângulos de difração (2θ) e a intensidade dos feixes difratados, é possível obter informações precisas sobre as estruturas dos materiais analisados. Essa abordagem proporciona informações significativas sobre a organização atômica e molecular dos cristais, permitindo uma compreensão mais aprofundada de suas propriedades físicas e químicas (Callister, 2002;Silva, 2020). Na…”
Section: 1-2 Difratometria De Raio X (Drx)unclassified
“…Ao medir os ângulos de difração (2θ) e a intensidade dos feixes difratados, é possível obter informações precisas sobre as estruturas dos materiais analisados. Essa abordagem proporciona informações significativas sobre a organização atômica e molecular dos cristais, permitindo uma compreensão mais aprofundada de suas propriedades físicas e químicas (Callister, 2002;Silva, 2020). Na…”
Section: 1-2 Difratometria De Raio X (Drx)unclassified