Cryst. Res. Technol.
341999 1 71-88Starting from the origin and the informational content of Kossel interferences excited by electron and synchrotron radiation beams selected examples of microstructural applications, such as the precision determination of lattice constants, the precision determination of crystallographic orientation of single grains, the determination of local stresses/strains and the determination of tetragonal distortions of cubic lattices including the description of a variety of methods for analysis are presented.Ausgehend vom Prinzip der Entstehung und des Informationsgehaltes von elektronenstrahl-bzw. synchrotronstrahlangeregten Kossel-Aufnahmen werden Auswertungsmethoden und Anwendungen im Mikrobereich, wie die Präzisionsgitterkonstantenbestimmung, die Einzelkorn-Orientierungsbestimmung, die Eigenspannungsanalyse sowie die Diagnose von Abweichungen von der kubischen Symmetrie an ausgewählten Beispielen beschrieben.
In 1996, we performed the first measurements of residual stresses by using synchrotron excited KOSSEL diffraction (at the beamline L of the HASYLAB, Hamburg). Our first findings as well as the principle of the determination procedure for obtaining residual stresses from KOSSEL lines are presented. The KOSSEL technique is a very suitable method for fast measurements of local residual stresses in micron regions. Because of the high lateral resolution even residual stresses of third order (inhomogeneities of the stress state within a grain) can be proved and calculated.Im Jahre 1996 führten wir die ersten Eigenspannungsmessungen mittels synchrotronstrahlangeregter KOSSEL-Beugung (an Beamline L des HASYLAB, Hamburg) durch. Die ersten Ergebnisse und das Prinzip der Eigenspannungsbestimmung werden hiermit vorgestellt. Die KOSSEL-Technik eignet sich besonders für schnelle lokale Eigenspannungsanalysen in Mikrobereichen. Aufgrund der hohen lateralen Auflösung können sogar Eigenspannungen III. Art nachgewiesen und berechnet werden.
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