No abstract

Evropiyum (Eu) katkılı çinko oksit (ZnO) filmleri, ucuz ve basit bir metot olan sol jel metodu ile elde edilen çözeltiler kullanılarak p-tipi silisyum (p-Si) alttaşlar üzerine spin kaplama tekniği ile büyütülmüştür. Elde edilen ZnO filminin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri üzerine Eu katkısının etkisi, sırasıyla X-ışını kırınım cihazı, taramalı elektron mikroskobu ve uv-vis spektrofotometresi kullanılarak araştırılmıştır. Filmlerin XRD spektrumlarından, bütün filmlerin hekzagonal wurtzite zinkit (ZnO) yapıya ait olduğu ve (002) tercihli yönelime sahip olduğu belirlenmiştir. ZnO:Eu filmlerinin çekilen SEM fotoğrafları ImageJ programı ile analiz edilmiştir. Bütün filmlerin yüzeylerinin homojen ve düzgün yapıya sahip olduğu ve nanoparçacıklardan oluştuğu; yapılan Eu katkısının ZnO yüzey morfolojisinde önemli bir değişiklik olmadığı gözlenmiştir. ZnO:Eu filmlerinin diffüz yansıma spektrumları, entegre küre aparatlı UV-vis spektrofotometre yardımıyla ölçülmüştür. Bu spektrumlar kullanılarak filmlerin optik bant aralık değerleri, hem diferansiyel yansıma spektrumları hem de Kubelka-Munk fonksiyonu kullanılarak belirlenmiştir.

Özet: Katkısız ve Erbiyum (Er) katkılı çinko oksit (ZnO) filmleri sol jel spin kaplama yöntemi ile p-Si alttaşlar üzerine elde edilmiştir. ZnO filminin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri üzerine Er katkısının etkisi sırasıyla, X-ışını kırınım cihazı, taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve UV-vis spektrofotometresi kullanılarak araştırılmıştır. X-ışınları kırınımı (XRD) spektrumlarından, bütün filmlerin hekzagonal wurtzite yapıda ve zinkit fazda kristallendiği belirlenmiştir. Kristallenme boyutu, dislokasyon yoğunluğu, örgü parametreleri, kristal yapıdaki deformasyon ve gerilim gibi yapısal parametreler hesaplanmıştır. SEM görüntülerinden, film yüzeylerinin çatlaklar ve gözenekler olmadan iyi kaplanmış ve homojen olduğu görülmektedir. Ortalama tane boyutu, tane sınırları ve filmlerin yüzey durumlarının araştırılması için ImageJ programı kullanılmıştır. UV sprektrofotometresi ile optik ölçümler yapılmış ve optik bant aralığı diferansiyel yansıma ve Kubelka-Munk teorisiyle belirlenmiştir. Her iki yöntemden de, ZnO filminin optik band değerinin Er katkısıyla düzensiz olarak artıp azaldığı belirlenmiştir. %0,4 Er katkılı ZnO filminin optik band aralığının diğer filmlere göre daha büyük olduğu gözlenmiştir.

No abstract