Die Notwendigkeit, flächenhaft strukturierte Oberflächen zu charakterisieren, führt vermehrt zum Einsatz optischer 3D-Mikroskopie in der Fertigungsmess- und Prüftechnik. Im Gegensatz zu den konventionell verwendeten taktilen Messsystemen, für die geeignete Normen und Prüfkörper zur Verfügung stehen, erweist sich die Rückführung mittels optischer 3D-Messtechnik gewonnener Daten als schwierig. Bedingt durch die Eigenheiten des jeweils verwendeten Systems kommt es zum Auftreten individueller Fehlertypen, die nur durch die Entwicklung und Kombination geeigneter Normale charakterisiert werden können.
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