2021
DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.5.270.274
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Первый В Мире Сканирующий Зондовый Микроскоп В Виде Спутника Как Старт Этапа Научных Спутников-Лабораторий

Abstract: На примере разработки первого в мире зондового микроскопа – спутника Земли, предлагается новый этап экспериментальных методов для различных наук – создание спутников-лабораторий, то есть вынос экспериментов из земных лабораторных установок непосредственно в космос в виде спутников Земли вместе с приборами и изучаемыми в них наборами объектов.

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2023
2023
2024
2024

Publication Types

Select...
5

Relationship

0
5

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(1 citation statement)
references
References 8 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Цель настоящей работы заключалась в построении общего алгоритма и решении задач многоуровневогомоделированияпроцессовразрушенияматериаловнаосновеанализаструктуры ивыявлениязакономерностейразвитиядефектоввтакихматериалах,какмодифицированный органическимнаполнителемпористыйбетон,дре-весинаБилингаилунныйгрунт(реголит Характеристикидефектноймикроструктуры: размеры,регулярностьрасположениядефектов ирасстояниемеждуними,выявляютсяметодамиморфологическогоанализа,применяемымив оптическойфрактографии,электронноймикроскопии,профилометрии,сиспользованием,например,сканирующихатомно-силовыхитуннельныхмикроскопов [26].…”
Section: Introductionunclassified
“…Цель настоящей работы заключалась в построении общего алгоритма и решении задач многоуровневогомоделированияпроцессовразрушенияматериаловнаосновеанализаструктуры ивыявлениязакономерностейразвитиядефектоввтакихматериалах,какмодифицированный органическимнаполнителемпористыйбетон,дре-весинаБилингаилунныйгрунт(реголит Характеристикидефектноймикроструктуры: размеры,регулярностьрасположениядефектов ирасстояниемеждуними,выявляютсяметодамиморфологическогоанализа,применяемымив оптическойфрактографии,электронноймикроскопии,профилометрии,сиспользованием,например,сканирующихатомно-силовыхитуннельныхмикроскопов [26].…”
Section: Introductionunclassified