Метод Матриц Рассеяния Для Расчета Спонтанной Излучательной Рекомбинации В Структурах С Цилиндрической Симметрией

Abstract

Разработан метод анализа модификации спонтанного излучения в структурах с цилиндрической симметрией. Выведен метод матриц рассеяния для цилиндрических структур. На основе матриц рассеяния получены правила квантования электромагнитного поля (S-квантование) в цилиндрических системах. Получены общие выражения для темпа излучательной рекомбинации эмиттера, находящегося в произвольной точке структуры. Выведены количественные показатели, дающие оценку усилению и подавлению излучательной рекомбинации, которые могут рассматриваться как модовые факторы Парселла. Получено выражение для суммарного фактора Парселла для излучения в направлении, перпендикулярном оси симметрии среды, а также выражение для интегрального (полного) фактора Парселла для эмиттера на оси симметрии. Ключевые слова: нанофотоника, спонтанная излучательная рекомбинация, эффект Парселла.