2012
DOI: 10.26740/jpfa.v2n1.p20-29
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

UJI XRD DAN XRF PADA BAHAN MENERAL (BATUAN DAN PASIR) SEBAGAI SUMBER MATERIAL CERDAS (CaCO3 DAN SiO2)

Abstract: Indonesia adalah negara dengan potensi alam yang melimpah, khususnya bahan tambang (mineral), diantaranya material-material dengan kandungan oksida yang mempunyai prospek aplikasi sebagai material cerdas (misalnya SiO2, CaCO3, Al2O3,TiO2, dsb). Tujuan dari penelitian ini adalah mencari atau mengidentifikasi kandungan unsur oksida didalam bahan alam jenis batuan atau pasir kuarsa dengan kemurnian tinggi (> 50%), khususnya sebagai sumber oksida SiO2 (silica) dan CaCO3 (calsite). Selanjutnya bahan-bahan terseb… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1
1

Citation Types

0
16
0
11

Year Published

2016
2016
2023
2023

Publication Types

Select...
7
3

Relationship

0
10

Authors

Journals

citations
Cited by 30 publications
(27 citation statements)
references
References 0 publications
0
16
0
11
Order By: Relevance
“…Bila energi sinar tersebut lebih tinggi dari pada energi ikat elektron dalam orbit K, L, atau M sampel, maka elektron sampel akan keluar dari orbitnya. Maka sampel akan mengalami kekosongan elektron dan diisi oleh elektron dari orbital yang lebih luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-X (Munasir, dkk., 2012). Spektrometer XRF adalah alat uji untuk menganalisis unsur yang terkandung dalam bahan secara kualitatif maupun kuantitatif (Jamaludin, 2012).…”
Section: Analisis Deposisi Kering Dan Logam Beratunclassified
“…Bila energi sinar tersebut lebih tinggi dari pada energi ikat elektron dalam orbit K, L, atau M sampel, maka elektron sampel akan keluar dari orbitnya. Maka sampel akan mengalami kekosongan elektron dan diisi oleh elektron dari orbital yang lebih luar diikuti pelepasan energi yang berupa sinar-X (Munasir, dkk., 2012). Spektrometer XRF adalah alat uji untuk menganalisis unsur yang terkandung dalam bahan secara kualitatif maupun kuantitatif (Jamaludin, 2012).…”
Section: Analisis Deposisi Kering Dan Logam Beratunclassified
“…X-Ray Diffraction (XRD) merupakan analisis yang digunakan untuk mengidentifikasi material kristalit, sebagai contoh identifikasi struktur kristalit (kualitatif) dan fasa (kuantitatif) dalam suatu bahan dengan memanfaatkan radiasi gelombang elektromagnetik sinar-X. Selain itu, juga dimanfaatkan untuk mengetahui rincian lain seperti susunan berbagai jenis atom dalam kristal, kehadiran cacat, orientasi, dan cacat kristal [4]. X-Ray Diffraction (XRD) merupakan analisis yang digunakan untuk mengidentifikasi material kristalit, sebagai contoh identifikasi struktur kristalit (kualitatif) dan fasa (kuantitatif) dalam suatu bahan dengan memanfaatkan radiasi gelombang elektromagnetik sinar-X [5].…”
Section: Pendahuluanunclassified
“…Nanoteknologi merupakan satu ilmu atau teknologi yang mempelajari objek yang ukurannya lebih kecil dari 100 nm yang mana kemudian dari objek tersebut dilakukan manipulasimanipulasi sehingga menghasilkan benda baru yang menjadi karakter khusus seperti yang diinginkan. Terdapat 3 isu penting dalam pengembangan nanoteknologi yaitu bagaimana membuat material berukuran nano sebagai bahan baku produk nano, bagaimana mengkarakterisasi material yang telah disintesis dan yang terakhir adalah bagaimana menyusun material nano yang telah disintesis menjadi sebuah produk yang diinginkan [1].…”
Section: Pendahuluanunclassified