Terahertz dielectric spectra of (Ba,Sr)TiO3 thin films

Komandin, G. A.; Волков, А. А.; Spektor, I. E.; Воротилов, К. А.; Мухортов, В. М.

doi:10.1134/s1063783409070087

Cited by 19 publications

(15 citation statements)

References 9 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…In addition, it has recently been shown [8] that the diffusion of particles, interacting with attractive centers, reveals such frequency dependents for D(ω), that gives rise to the same dispersion in conductivity σ (ω) as in Eq. (4).…”

Section: Resultsmentioning

confidence: 95%

See 1 more Smart Citation

Terahertz Measurements for Wideband Dielectric Spectral Panoramas

et al. 2012

Self Cite

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

Section: Resultsmentioning

confidence: 95%

“…1. The panoramas combine data of both the terahertz and the infra-red measurements [2][3][4]. Therefore, they are strongly structured from the high frequency side by the sharp phonon resonances.…”

Section: Resultsmentioning

confidence: 99%

Terahertz Measurements for Wideband Dielectric Spectral Panoramas

et al. 2012

Self Cite

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…is widely used for processing spectra in the long wave length range [17]. When relation (3) is applied near the absorption edge, data obtained from (1) and (2) are much different from the real transmission spectrum.…”

Section: Experiments and Experimental Datamentioning

confidence: 99%

Optical properties of thin epitaxial Ba0.8Sr0.2TiO3 films

2012

Self Cite

View full text Add to dashboard Cite

The properties of nanodimensional (Ba 0.8 , Sr 0.2 )TiO 3 films on single crystal magnesia substrates are studied. The films are applied by rf sputtering and grow in the layer by layer mode. The lattice parameters are measured by the X ray diffraction method. The transmission of the films with different thicknesses is stud ied in the wavelength range 190-1100 nm. When analyzing experimental optical parameters, additional relaxation parameters depicting a final lifetime of the oscillator are used to characterize the refractive index and absorption factor in the dispersion relation. Such an approach allows a more accurate approximation of experimental data.

show abstract

“…В расчетах модельных спектров учитывался вклад многофононных процессов поглощения, формиру-ющих асимметричные полосы в THz участке спектра в монокристаллах оксида магния [41] и сапфира [42]. В работе [43] было показано, что относительно малый вклад разностных процессов в поглощение в подложке не может быть проигнорирован при расчетах диэлектри-ческого отклика пленки.…”

Section: экспериментальные и расчетные методикиunclassified

Механизмы Поглощения Терагерцового И Инфракрасного Излучения В Пленках PZT

Komandin¹,

Porodinkov²,

Spektor³

et al. 2018

Физика Твердого Тела

View full text Add to dashboard Cite

Измерены и проанализированы THz−IR-спектры диэлектрического отклика плотных и пористых пленок Pb(Zr,Ti)O 3 , осажденных на подложки из монокристаллических оксидов магния и алюминия, а также на крем-ниевые подложки с платиновым контактным слоем. Рассмотрены основные механизмы электродипольного поглощения, формирующие полосы в экспериментальных спектрах отражения и пропускания. Обсуждается зависимость параметров полос поглощения в пленках от типа подложки.Работа в МИРЭА выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России в рамках проектной части государственного задания в сфере научной деятельности, проект № 11.2259.2017/4.6; работа в ИОФ РАН выполнена при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, проект № 15-02-02335a.

show abstract

Terahertz dielectric spectra of (Ba,Sr)TiO3 thin films

Cited by 19 publications

References 9 publications

Terahertz Measurements for Wideband Dielectric Spectral Panoramas

Terahertz Measurements for Wideband Dielectric Spectral Panoramas

Optical properties of thin epitaxial Ba0.8Sr0.2TiO3 films

Механизмы Поглощения Терагерцового И Инфракрасного Излучения В Пленках PZT

Contact Info

Product

Resources

About