Polimer içerikli malzemeler, doğal ya da sentetik yapıdaki polimerler ile hazırlanan, nanometre boyutunda analiz edilebilen matris sistemlerdir. Nanoölçek seviyesinde yapılar içeren malzemelerin özellikleri makroskopik ölçekten tamamen farklıdır. Nano boyuttaki malzemenin iletim özellikleri (momentum, enerji ve kütle), optik, elektronik, manyetik ve kimyasal özellikleri değişir. Polimerlere kil katkısı ile polimer/kil nanokompozitler elde edilir ve çeşitli spektroskopik yöntemler kullanılarak polimer/kil nanokompozitlerin termal, mekanik ve yüzey karakterizasyonu yapılabilmektedir. Bu çalışmada, yüzey analiz metotlarında kullanılan İnfrared Spektroskopisi (FTIR), X-Işınları Kırınım Yöntemi (XRD), Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM), Geçirimli Elektron Mikroskobu (TEM), Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) hakkında bilgi verilmiştir.