Superconducting MgB2 weak links and superconducting quantum interference devices prepared by AFM nanolithography

Pleceník, T.; Gregor, M.; Praščák, M.; Mičunek, R.; Grajcar, M.; Lugstein, Alois; Bertagnolli, E.; Záhoran, M.; Роч, Т.; Kúš, P.; Plecenı́k, A.

doi:10.1016/j.physc.2007.11.048

Cited by 4 publications

(2 citation statements)

References 6 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Несмотря на огромное коли-чество работ, посвященных попыткам построения фазо-вых H−T -диаграмм гранулярных BCS-сверхпроводников MgB 2 при низких температурах (см., например, [5][6][7][8][9][10][11][12][13][14][15][16][17][18][19][20][21]), до сих пор не установлено положение линий H c1g (H c1A ) и H c2J на фазовой H−T -диаграмме. Более того, подвергается сомнению и само существова-ние " слабых связей" [иными словами, наличие линии H c2J (T ) на H−T -диаграмме] в случае гранулярного BCS-сверхпроводника MgB 2 [22][23][24][25][26][27][28].…”

Section: G (T H) ≫ I J (T H)unclassified

Фазовые переходы в гранулярном BCS-сверхпроводнике MgB-=SUB=-2-=/SUB=- в слабых магнитных полях

Derevianko¹,

Sungurov²,

Sukhareva³

et al. 2017

Физика Твердого Тела

View full text Add to dashboard Cite

Изучен характер температурных зависимостей электросопротивления гранулярных BCS-сверхпроводников MgB2 при ~35-45 K во внешних магнитных полях Hext напряженностью до ~2 kOe. Обнаружен эффект повышения ширины сверхпроводящего перехода Delta Tc при росте Hext. Установлено наличие системы "слабых связей" (weak links) в гранулярных сверхпроводниках на основе MgB2. На основании полученных экспериментальных данных установлена принадлежность гранулярного BCS-сверхпроводника MgB2 к двухуровневым сверхпроводящим системам, построена фазовая H-T-диаграмма. DOI: 10.21883/FTT.2017.02.44038.171

show abstract

Section: G (T H) ≫ I J (T H)unclassified

Фазовые переходы в гранулярном BCS-сверхпроводнике MgB-=SUB=-2-=/SUB=- в слабых магнитных полях

Derevianko¹,

Sungurov²,

Sukhareva³

et al. 2017

Физика Твердого Тела

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…AFM-based nanolithography can be realized by two techniques: local anodic oxidation and direct mechanical modification [13,14]. The principle of the local anodic oxidation of NbN is shown in figure 1.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

Local anodic oxidation of superconducting NbN thin films by an atomic force microscope

Xiao-yan

You

Wang

et al. 2009

Supercond. Sci. Technol.

View full text Add to dashboard Cite

A local anodic oxidation technique has been applied to create oxidized nanowires on superconducting NbN thin films using an atomic force microscope (AFM) with a conductive probe. The AFM surface topography shows that both the width and height of the oxidized nanowires increase with increasing applied probe voltage under a certain relative humidity and a probe scan rate. The resistances of the NbN microbridges with and without an oxidized nanowire crossing were measured, and the results indicate that the oxidized nanowires with height of more than 8 nm are fully oxidized. The R–T and I–V characteristics of the NbN microbridges with the oxide wire of less than 8 nm were also obtained and analyzed. Methods for fabricating devices such as superconducting single photon detectors and superconducting hot electron bolometer mixers using this technology are discussed.

show abstract

Nanoscale Scratching with Single and Dual Sources Using Atomic Force Microscopes

Tseng

2011

Tip-Based Nanofabrication

View full text Add to dashboard Cite

Superconducting MgB2 weak links and superconducting quantum interference devices prepared by AFM nanolithography

Cited by 4 publications

References 6 publications

Фазовые переходы в гранулярном BCS-сверхпроводнике MgB-=SUB=-2-=/SUB=- в слабых магнитных полях

Фазовые переходы в гранулярном BCS-сверхпроводнике MgB-=SUB=-2-=/SUB=- в слабых магнитных полях

Local anodic oxidation of superconducting NbN thin films by an atomic force microscope

Nanoscale Scratching with Single and Dual Sources Using Atomic Force Microscopes

Contact Info

Product

Resources

About