Relation of Paint Properties to Surface Areas of Carbon Black

Brown, Owen; Smith, W. R.

doi:10.1021/ie50387a022

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“…To test this hypothesis, an average particle size for the various carbon blat ks was calculated from the surface area, using a carbon particle density of 2.1. Then, by the Kelvin equation, a value for p' 2aV rRT (3) was calculated for liquid droplets having diameters 8 A. greater than those of the average carbon particles, p/p' was then used in new B.E.T. plots and also in new pressure vs. volume isotherm plots in place of p/p<>.…”

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Surface-area Measurements on Metal Spheres and on Carbon Blacks.

Emmett¹,

Cines²

1947

J. Phys. Chem.

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“…The carbon blacks were supplied by Godfrey L. Cabot, Inc.4 Their methods of preparation and general uses and properties have all been described in previous publications (1,3,14).…”

Section: 34mentioning

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Surface-area Measurements on Metal Spheres and on Carbon Blacks.

Emmett¹,

Cines²

1947

J. Phys. Chem.

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Anwendungen der Elektronen‐Mikroskopie auf dem Fettgebiet I: Die Untersuchung von Anstrichen

Kaufmann

Gulinsky

1955

Fette, Seifen, Anstrichm.

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Es wurden sehl-diimne Ollack-Fillne untersuzht, wobei aul3erst feine Runzeln, Poren und kolloidale Ulpartikelchen in trackmen Pilinen crkennbar wdren. Auch Sikkative unNd Wachse, die kolloitlal ocler kristnllin tixiert sind, werden sichtbar. Durch Platin-Bedainpfung konnen auch einzelne Film-Unebenheiten nachgewiesen wertien.Emploi de la microscopic-electronique dans le domaine des corps gras I: L'examen deri produits de revelement

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Neue Möglichkeiten der Oberflächenuntersuchung für die Lackforschung mittels der Raster‐Elektronenmikroskopie

Pfefferkorn

Blaschke

1968

Fette, Seifen, Anstrichm.

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Die Raster‐Elektronenmikroskopie ermöglicht die unmittelbare Oberflächenuntersuchung von Lackschichten bzw. von dem Untergrundmaterial. Sie liefert bei einfachster Präparatvorbereitung plastisch wirkende Bilder von 20‐ bis 50000facher Vergrößerung mit außergewöhnlicher Tiefenschärfe bei einem Auflösungsvermögen von 30 nm. Sie schließt gewisse Lücken der Untersuchungstechnik bei der Lichtmikroskopie bezüglich der Tiefenschärfe und bei der konventionellen Durchstrahlungs‐Elektronenmikroskopie bezüglich der Präparation. Auf die mögliche Gewinnung einiger Daten für Pigmente in Lackschichten mittels Raster‐elektronenmikroskopischer Untersuchungen wird hingewiesen.

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Surface-area Measurements on Metal Spheres and on Carbon Blacks.

Surface-area Measurements on Metal Spheres and on Carbon Blacks.

Anwendungen der Elektronen‐Mikroskopie auf dem Fettgebiet I: Die Untersuchung von Anstrichen

Neue Möglichkeiten der Oberflächenuntersuchung für die Lackforschung mittels der Raster‐Elektronenmikroskopie

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