Quantitative Determination of Low Atomic Number Elements Using Intensity Ratio of Coherent to Incoherent Scattering of X-Rays.  Determination of Hydrogen and Carbon

Dwiggins, C. W.

doi:10.1021/ac60169a019

Cited by 43 publications

(12 citation statements)

References 12 publications

(3 reference statements)

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…By incorporating repeat measurements for these interfering elements giving a coefficients exceeding 32.767 the numerical limit on a coefficients can be overcome. 4. The degree of elaboration of the matrix effect function required to calculate theoretical intensities depends on two factors:…”

Section: Discussionmentioning

confidence: 99%

See 1 more Smart Citation

The calibration of an automatic X‐ray spectrometer using calculated relative intensities

Chamberlain

1978

X-Ray Spectrometry

View full text Add to dashboard Cite

It is demonstrated that an evaluation procedure for conversion of X-ray intensity to element concentration used on an existing spectrometer can be used in reverse to provide intensity data for calibrating another spectrometer. Extensive remeasurement of standards is thereby eliminated. Intensities are calculated for postulated changes in composition and these form the input data for the spectrometer computer regression program. Such data are free from measurement error. Calibration and a coefficients from calculated intensities are found to give analytical results of an accuracy comparable with those derived from experimentally produced calibrations. The intensity calculations can be extended to include the determination of calibration and a coefficients without using the spectrometer regression programs. Considerable expense and effort can be saved. ~ ~ ~~ ~-INTENSITY CALCULATIONS The calibration equation used by the PW1450 spectrometer takes the form CT = (D t ER) [ 1 t (aij Cj/ 1 OO)]where C = concentration; D = calibration intercept (in concentration units); E = calibration slope factor; R = spectrometer intensity function; i = analyte; j = interfering element; aij = a coefficient, i.e. the constant representing the effect of element j on element i.The PW1450 spectrometer possesses facilities for correcting raw intensities for spectral background intensity and CCC~049-8246/78/0007-0190 $02.50

show abstract

Section: Discussionmentioning

confidence: 99%

“…[l + ~(aijcylOO)]- (4) Equation (4) is particularly useful when an analytical program is needed for use with a monitor specimen of differing composition. Using the new values of Cs and known values of a coefficients and D , the slope factors can be calculated without recourse to the regression programs.…”

Section: E =mentioning

confidence: 99%

The calibration of an automatic X‐ray spectrometer using calculated relative intensities

Chamberlain

1978

X-Ray Spectrometry

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…Это связано, в первую очередь, с малыми значениями выхода флуоресцен-ции или с невозможностью измерения рентгенов-ского спектра, например, при определении содер-жаний водорода. Одной из первых в этом перечне является работа [111], в которой показана возмож-ность определения соотношения углерода и водо-рода в нефтепродуктах. Для этого авторы исполь-зовали отношение интенсивностей когерентно и некогерентно рассеянного пробой характеристи-ческого излучения вольфрамового анода рент-геновской трубки (WL α ).…”

Section: нестандартное использование рассеянного излученияunclassified

Use of intensity of the X-ray radiation disseminated by substance in practice of X-ray fluorescent analysis

Tsvetyanskii¹,

Eritenko²

2014

АиК

View full text Add to dashboard Cite

ФГАОУ ВПО «Южный федеральный университет»Российская Федерация, 344006, Ростов-на-Дону, ул. Большая Садовая, 105 jecker@inbox.ruПоступила в редакцию 14 ноября 2013 года, после исправлений -4 марта 2014 года.Выполнен критический обзор опубликованных работ, посвященных теории и практике при-менения рассеянного первичного рентгеновского излучения веществом. Детально рассмотре-ны физические основы упругого и неупругого рассеяния рентгеновских фотонов атомами ве-щества. Сопоставлены результаты расчетов дифференциальных коэффициентов рассеяния с экспериментальными данными различных авторов. Показана необходимость учета вклада многократного рассеяния в интенсивность рассеянного излучения на образцах с малыми атом-ными номерами. Проведен анализ влияния аномального рассеяния на результаты рентгеноф-луоресцентного анализа (РФА) и возможности его учета. Приведены примеры успешных по-пыток учета или компенсации изменения коэффициентов рассеяния образцов. Рассмотрены различные случаи использования рассеянного излучения в практике РФА с целью учета ма-тричных эффектов и других трудноконтролируемых факторов. Продемонстрированы примеры эффективного и ограниченного использования рассеянного излучения в регрессионных урав-нениях связи и способе теоретических поправок, а также нестандартного применения рассе-янного излучения. Сделаны выводы и даны практические рекомендации.Ключевые слова: рентгенофлуоресцентный анализ, рассеянное излучение, дифферен-циальные сечения когерентного и некогерентного рассеяния, аномальное рассеяние, межэ-лементные влияния.Цветянский Александр Леонидович -доктор физико-математических наук, про-фессор кафедры общей физики Южного федерального университета.Область научных интересов: рентгенофлуоресцентный анализ, методики анализа и программное обеспечение.Опубликовано более 100 научных работ.Еритенко Александр Николаевич -кандидат физико-математических наук, стар-ший научный сотрудник НИИ физики Южного федерального университета.Область научных интересов: рентгенофлуоресцентный анализ, теория возбужде-ния рентгеновского излучения заряженными частицами, программное обеспечение.Опубликовано более 100 научных работ. ВведениеАналитическим сигналом в рентгенофлуо-ресцентном анализе (РФА) служат интенсивно-сти наиболее ярких линий характеристического спектра элементов. Характеристический спектр возникает на фоне, создаваемом рассеянным средой излучением. Во многих случаях наличие этого фона приводит к снижению чувствитель-ности метода и повышению порога обнаружения элементов. С другой стороны, рассеянное из-лучение является функцией вещественного со-става среды и других физико-химических харак-теристик. Поэтому измерение и использование интенсивности рассеянного излучения в целом ряде случаев позволяет снизить влияние ряда трудноконтролируемых факторов при проведе-нии рентгенофлуоресцентного анализа и повы-сить точность определений. Краткая теория рассеянияПри взаимодействии рентгеновского излу-чения с веществом в основном происходят два процесса, приводящие к ослаблению первичного пучка: фотоэлектрический эффек...

show abstract

“…drinking water, air, etc., without causing any adverse effect on human health is specified by different environment control authorities . However, the detection and the quantification of such elements by using different techniques have always been a challenging task . In the field of total reflection X‐ray fluorescence (TXRF) spectrometry, specialized spectrometers have been developed and applied for the determination of low Z elements in different sample matrices .…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

“…[3] However, the detection and the quantification of such elements by using different techniques have always been a challenging task. [4][5][6][7][8][9] In the field of total reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectrometry, specialized spectrometers have been developed and applied for the determination of low Z elements in different sample matrices. [10,11] Although TXRF analysis has offered a new dimension for trace element determination with detection limits for most of the elements comparable with those obtained by different, well-established analytical techniques, e.g.…”

Section: Introductionmentioning

confidence: 99%

A comparative study on the total reflection X-ray fluorescence determination of lowZelements using X-ray tube and synchrotron radiation as excitation sources

et al. 2017

View full text Add to dashboard Cite

Detailed total reflection X‐ray fluorescence (TXRF) studies for the detection and quantification of low atomic number elements were carried out by using a laboratory dual source TXRF spectrometer equipped with a vacuum chamber and at the International Atomic Energy Agency multi‐purpose end‐station facility, operated at the XRF beamline of Elettra Sincrotrone Trieste, Italy. Multi‐elemental standard aqueous solutions of low Z elements (F, Na, Al, S, K, Sc, and Ti) with different elemental concentrations of 2, 10, 20, and 30 µg/ml were prepared and measured in both setups. The measurements at the synchrotron setup were performed in a scanning mode across the sample residue and perpendicular to the incident beam in order to account properly for a possible non‐uniform deposition of certain elements. The accuracy and the detection limits obtained from the TXRF measurements in both setups were determined and comparatively evaluated and assessed. Significant improvement in the TXRF detection limits at the synchrotron beamline end‐station was obtained for the elements with Z ≤ 13 (Al). Copyright © 2017 John Wiley & Sons, Ltd.

show abstract

Quantitative Determination of Low Atomic Number Elements Using Intensity Ratio of Coherent to Incoherent Scattering of X-Rays. Determination of Hydrogen and Carbon

Cited by 43 publications

References 12 publications

The calibration of an automatic X‐ray spectrometer using calculated relative intensities

The calibration of an automatic X‐ray spectrometer using calculated relative intensities

Use of intensity of the X-ray radiation disseminated by substance in practice of X-ray fluorescent analysis

A comparative study on the total reflection X-ray fluorescence determination of lowZelements using X-ray tube and synchrotron radiation as excitation sources

Contact Info

Product

Resources

About