Quantifying the data quality of focal series for inline electron holography

Huang, Michael R. S.; Eljarrat, Alberto; Koch, Christoph T.

doi:10.1016/j.ultramic.2021.113264

Cited by 3 publications

(1 citation statement)

References 22 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Order By: Relevance

“…К недостаткам внеосевой голографии можно отнести необходимость дополнительного оснащения просвечивающего электронного микроскопа электростатической бипризмой и малой областью зрения (до нескольких µm 2 ). Осевая голография лишена таких недостатков, но требует применения продвинутых математических методов и учета искажения микрофотографий в зависимости от степени дефокусировки [5]. Голографические методы электронной микроскопии обладают наилучшим пространственным разрешением, но сложность их реализации часто заставляет использовать более простые методы лоренцевой микроскопии.…”

Section: Introductionunclassified

Визуализация Магнитных Полей В Растровом Электронном Микроскопе

Татарский¹,

Скороходов²,

Гусев³

2023

Журнал Технической Физики

View full text Add to dashboard Cite

The fundamental possibility of measuring the stray fields distributions of magnetic objects in a scanning electron microscope is demonstrated. The main idea of the method is to use a sample holder for operation in the mode of a scanning transmission microscope, additionally equipped with a square diffraction grating. This grating, formed on the basis of a metal film, is placed at some distance under the magnetic sample. Reconstruction of the deflections of transmitted electrons by analyzing the geometric phase from visible distortions of the diffraction grating made it possible to reconstruct the distribution of the magnetic field created by the sample under study.

show abstract

Section: Introductionunclassified