“…При этом были исследованы структурные элементы в диапазоне размеров от нескольких до сотен нанометров. Обширное исследование структурных особенностей этих же плёнок различными диагно-стиками в диапазоне существенно меньших размеров (субнанометровых) было проведено в [6][7][8][9]. По-следним шагом, «заполняющим» ранее не исследованный диапазон вблизи одного нанометра, стала рентгеновская дифрактометрия плёнок, осаждённых внутри вакуумной камеры в токамаке Т-10, прове-дённая на синхротронном источнике в РНЦ «Курчатовский институт» (на длинах волн = 0,1 нм и = 0,0464 нм), а также с помощью стандартной рентгеновской трубки ( = 0,154 нм) [10,11], которая показала, что высокий широкий пик на малых углах в угловом распределении рассеянного сигнала не описывается известными структурными особенностями поликристаллов типичных примесей (включая графит) и наиболее известных наноблоков (прямых нанотрубок и фуллеренов).…”