2010
DOI: 10.21517/0202-3822-2010-33-1-7-22
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Modelling of X-Ray Diffraction by Carbon Nanostructures and Determination of Their Possible Topological Contents in the Deposited Films From Tokamak Т-10

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0
9

Year Published

2011
2011
2015
2015

Publication Types

Select...
3

Relationship

1
2

Authors

Journals

citations
Cited by 3 publications
(9 citation statements)
references
References 14 publications
0
0
0
9
Order By: Relevance
“…В настоящей работе сформулированная в [3] оптимизационная задача идентификации вероятностей принадлежности элементарного рассеивателя (атома углерода) к наноструктуре определённой топологии и размера развита по трём направлениям:…”
unclassified
See 4 more Smart Citations
“…В настоящей работе сформулированная в [3] оптимизационная задача идентификации вероятностей принадлежности элементарного рассеивателя (атома углерода) к наноструктуре определённой топологии и размера развита по трём направлениям:…”
unclassified
“…-экспериментальная кривая малоуглового рассеяния в области 0,4 < q < 3 нм -1 имеет узкий центральный пик [15], а расчётный модельный (по схеме [3]) -слишком широкий (0 < q < 5 нм -1 , рис. 1, 2 в [3]). Нужно понять, каким образом можно использовать моделирование для описания экспериментальной кривой малоуглового рассеяния в области q < 5 нм -1 .…”
unclassified
See 3 more Smart Citations