1983
DOI: 10.1002/crat.2170180702
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Instability of “slow” solid‐liquid interface relaxation before the hetero‐LPE of III‐V compounds

Abstract: Results of specially designed experiments supplemented by numerous literature examples have been analysed in attempt to elucidate the processes occurring a t the interface between saturated niulticomponent liquid and a non-equilibrium solid before the hetero-LPE of nearly lattice-matched 111-V compounds. The "slow" interface relaxation which provides the moving of non-equilibrium solid-liquid system in the direction of thermodynamic equilibrium by solid-state diffusion (and which was previously believed to be … Show more

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“…En particulier la vitesse de dissolution du substrat, très rapide, semble indépendante de la face cristalline, contrairement aux résultats obtenus par Nakajima et al avec le système GaInAs/InP[21]. Nous avons montré par ailleurs[16] que le modèle de relaxation de type EBR (Etch Back Regrowth) proposé par Bolkhovityanov[22,23] interprétait ce comportement avec àala.…”
unclassified
“…En particulier la vitesse de dissolution du substrat, très rapide, semble indépendante de la face cristalline, contrairement aux résultats obtenus par Nakajima et al avec le système GaInAs/InP[21]. Nous avons montré par ailleurs[16] que le modèle de relaxation de type EBR (Etch Back Regrowth) proposé par Bolkhovityanov[22,23] interprétait ce comportement avec àala.…”
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“…Для широко распространенного ранее метода жидкофазной эпитаксии (ЖФЭ) проводились специальные исследования условий формирования переходных областей между слоя-ми гетероструктуры, выводы делались на основе качества поверхности эпитаксиального слоя [4]. Процесс ЖФЭ принято рассматривать как близкий к равновесному, за счет чего становится возможным межфаз-ное перераспределение компонентов, затрагивающее подложку, которое приводит к нерезкости границ.…”
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