1996
DOI: 10.1063/1.1147579
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Inexpensive circuit for the measurement of capture cross section of deep level defects in semiconductors

Abstract: A simple and inexpensive circuit to facilitate the direct measurement of capture cross section, when synchronized with a deep level transient spectroscopy system, is described. It avoids the most commonly encountered problem of loading and distortion of the bias ͑trap filling͒ pulses of nanosecond duration in the capture cross-section measurement. The capacitance meter, whose internal circuitry is responsible for the distortion, is connected and disconnected from the rest of the apparatus with the help of simp… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
5

Year Published

1998
1998
2015
2015

Publication Types

Select...
5

Relationship

1
4

Authors

Journals

citations
Cited by 5 publications
(5 citation statements)
references
References 7 publications
(7 reference statements)
0
0
0
5
Order By: Relevance
“…Основою для побудови алгоритмів проведення вимірювань та обчислень було взято тод використання імпульсів заповнення різної тривалості [4,11]. Зокрема для діапазону ротких імпульсів (як правило -до 500 нс), де функція заповнення рівня виражається …”
Section: результати та обговоренняunclassified
“…Основою для побудови алгоритмів проведення вимірювань та обчислень було взято тод використання імпульсів заповнення різної тривалості [4,11]. Зокрема для діапазону ротких імпульсів (як правило -до 500 нс), де функція заповнення рівня виражається …”
Section: результати та обговоренняunclassified
“…Åêñïåðèìåíòàëüíèì ï³äòâåðäaeåííÿì ³ñ-íóâàííÿ òàêèõ îáëàñòåé ìîaeóòü ñëóãóâàòè ðå-çóëüòàòè äîñë³äaeåííÿ EL-öåíòðó òîãî ae òàêè GaAs, ïðèâåäåí³ ó ðîáîò³ [12] (ðèñ. 4).…”
unclassified
“…Ó öüîìó âèïàäêó àíàë³ç çàëåaeíîñò³ âèñîòè ï³êó DLTS (S) â³ä äîâaeèíè çàïîâíþþ÷èõ ³ìïóëüñ³â (t p ) [3,12,13] äຠäîñèòü ïðîñòó ê³íöåâó ôîðìóëó äëÿ çíàõîäaeåííÿ σ Ðèñ. 4.…”
unclassified
See 2 more Smart Citations