2016
DOI: 10.1364/ome.6.000734
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

In situ monitoring the optical properties of dielectric materials during ion irradiation

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
2
1

Citation Types

0
15
0
17

Year Published

2017
2017
2023
2023

Publication Types

Select...
5
1

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 11 publications
(32 citation statements)
references
References 45 publications
0
15
0
17
Order By: Relevance
“…Este valor puede relacionarse con los resultados experimentales de medidas ópticas (reflectancia), donde se observan cambios en el índice de refracción. 31,32,128,129 En la literatura pueden encontrarse numerosas fórmulas que relacionan las variaciones en densidad de un material dieléctrico con sus cambios en índice de refracción. [130][131][132][133][134] En este trabajo hemos utilizado la fórmula de Lorentz-Lorenz modificada por Rzokiewicz y Panas para estudios de un material por capas de Si y sílice con distintos grados de compactación.…”
Section: Modelo Atomístico: Análisis De Propiedadesunclassified
See 4 more Smart Citations
“…Este valor puede relacionarse con los resultados experimentales de medidas ópticas (reflectancia), donde se observan cambios en el índice de refracción. 31,32,128,129 En la literatura pueden encontrarse numerosas fórmulas que relacionan las variaciones en densidad de un material dieléctrico con sus cambios en índice de refracción. [130][131][132][133][134] En este trabajo hemos utilizado la fórmula de Lorentz-Lorenz modificada por Rzokiewicz y Panas para estudios de un material por capas de Si y sílice con distintos grados de compactación.…”
Section: Modelo Atomístico: Análisis De Propiedadesunclassified
“…Basándonos en que los cambios en índice en función de la fluencia siguen una función de Poisson, 31,32,128,129 podemos obtener la variación en promedio del índice (densidad) con cada impacto. Este valor y el radio de traza experimental nos dan una estructura de traza inicial que puede ser comparada con los resultados de dinámica molecular.…”
Section: Modelo Atomístico: Análisis De Propiedadesunclassified
See 3 more Smart Citations