Near-Field Optics: Theory, Instrumentation, and Applications

Near-field scanning optical microscopy using polymethylmethacrylate optical fiber probes

“…To avoid complications related with the necessity to prepare metal-coated sharpened aperture probe, at this demonstration stage, we used a Photon Scanning Tunneling Microscope (PSTM) [1][2][3][4]14] for the operation in the near field, see Fig. 2.…”

“…Nowadays it is widely used to study a broad variety of samples in biology, material science, nanotechnology and other fields; see e.g. [1][2][3][4] for recent reviews.…”

“…Concerning the SNOM domain, these fibers look very promising for use as SNOM probes as one can anticipate much less fragility (compare glass and plastic) and greater ease of tip preparation. Actually, for such a preparation, hazardous HF treating, which remains the most popular approach to prepare SNOM probes from the glass fibers [1][2][3][4], can be completely avoided. These predictions have been confirmed by experiments and the results of these are presented below.…”

Исследование пространственного распределения фототока в плоскости Si-p-n-фотодиода с наноостровками GeSi методом сканирующей ближнепольной оптической микроскопии

“…В настоящее время наиболее распространена разновидность метода СБОМ, основанная на ограничении области взаимо-действия тестирующего излучения с поверхностью ис-следуемого образца посредством апертуры диаметром a ≪ λ, которая удерживается при помощи, например, датчика сдвиговой силы на расстоянии d ≪ λ от поверх-ности образца (т. е. в пределах области ближнего поля). В этом случае пространственное разрешение СБОМ составляет ∼ a ≪ λ [3].…”

“…В настоящее время наиболее распространена разновидность метода СБОМ, основанная на ограничении области взаимо-действия тестирующего излучения с поверхностью ис-следуемого образца посредством апертуры диаметром a ≪ λ, которая удерживается при помощи, например, датчика сдвиговой силы на расстоянии d ≪ λ от поверх-ности образца (т. е. в пределах области ближнего поля). В этом случае пространственное разрешение СБОМ составляет ∼ a ≪ λ [3].Среди различных оптических параметров поверхности образца наряду с вышеупомянутыми коэффициентами оптического поглощения и отражения метод СБОМ применяется для исследования пространственного рас-пределения интенсивности электромагнитного излуче-ния в активных областях различных оптоэлектронных приборов и элементов интегральной оптики (волокон-ных, интегрально-оптических волноводах и т. п.).…”