2016
DOI: 10.1063/1.4941357
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Ferromagnetism of MnxSi1-x(x ∼ 0.5) films grown in the shadow geometry by pulsed laser deposition method

Abstract: Absence of anomalous Nernst effect in spin Seebeck effect of Pt/YIG AIP Advances 6, 015018 (2016); 10.1063/1.4941340Dual resonant structure for energy harvesting from random vibration sources at low frequency AIP Advances 6, 015019 (2016) The results of a comprehensive study of magnetic, magneto-transport and structural properties of nonstoichiometric Mn x Si 1-x (x≈0.51-0.52) films grown by the Pulsed Laser Deposition (PLD) technique onto Al 2 O 3 (0001) single crystal substrates at T = 340 • C are present. A… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1

Citation Types

1
6
1
9

Year Published

2017
2017
2023
2023

Publication Types

Select...
8

Relationship

1
7

Authors

Journals

citations
Cited by 18 publications
(17 citation statements)
references
References 28 publications
1
6
1
9
Order By: Relevance
“…Механизм влияния энергии осаждаемых атомов на рост слоев Si 1−x Mn x (x ≈ 0.5) в настоящее время не вполне ясен. Возможно, полученные результаты связаны с различием в коэффициентах прилипания атомов Mn и Si к подложке Al 2 O 3 в процессе их осаждения и сильным отличием постоянных решеток MnSi и подложки Al 2 O 3 (около 10% [8]), обусловливающих рост более мелких кристаллитов при высоких скоростях осаждения MnSi и формирование однородной по толщине высокотемпературной ФМ фазы. В данной связи необходимы дальнейшие исследования, в частности, изучение влияния подложек (решеточного рассогласования) на ФМ свойства слоев Si 1−x Mn x (x ≈ 0.5).…”
Section: заключениеunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Механизм влияния энергии осаждаемых атомов на рост слоев Si 1−x Mn x (x ≈ 0.5) в настоящее время не вполне ясен. Возможно, полученные результаты связаны с различием в коэффициентах прилипания атомов Mn и Si к подложке Al 2 O 3 в процессе их осаждения и сильным отличием постоянных решеток MnSi и подложки Al 2 O 3 (около 10% [8]), обусловливающих рост более мелких кристаллитов при высоких скоростях осаждения MnSi и формирование однородной по толщине высокотемпературной ФМ фазы. В данной связи необходимы дальнейшие исследования, в частности, изучение влияния подложек (решеточного рассогласования) на ФМ свойства слоев Si 1−x Mn x (x ≈ 0.5).…”
Section: заключениеunclassified
“…Недавно было установлено, что в тонкопленочных образцах Si 1−x Mn x с небольшим избытком Mn (x = 0.52−0.55), полученных методом импульсного лазерного осаждения (ИЛО), температура Кюри T C ≥ 300 K, т. е. небольшое отклонение от стехиометрического состава MnSi приводит к увеличению T C более чем на порядок по сравнению с ε-MnSi [5,6]. Последующие исследования [7,8] показали, что данные пленки помимо высокотемпературной ферромагнитной (ФМ) фазы могут содержать низкотемпературную ФМ фазу, формирование которой может зависеть как от энергии осаждаемых частиц, так и от величины нестехиометрии Si 1−x Mn x пленок. Поэтому управление энергией частиц в процессе осаждения и возможность контролируемого изменения состава пленок Si 1−x Mn x представляют важную задачу для получения однофазных тонкопленочных образцов с высокой температурой Кюри.…”
Section: Introductionunclassified
“…При этом наблюдаемый избыток марганца x ≈ 0.52−0.53 соответствует ВТ ФМ-фазе [2,3]. Для образцов, выращенных при низких значениях E ≤ 5.7 J/cm 2 , ВТ ФМ-фаза присутствует, по-видимому, лишь вблизи подложки, аналогично пленкам Mn x Si 1−x , изученным в работах [9,10]. В верхних слоях пленки происходит существенное увеличение концентрации кремния.…”
Section: результаты и обсуждениеunclassified
“…Полученные данные позволяют предположить, что в пленках Mn x Si 1−x , синтезированных методом ИЛО, ВТ ФМ-фаза с концентрацией марганца x ≈ 0.53 формируется вблизи подложки Al 2 O 3 , в то время как НТ ФМ-фаза образуется в верхнем слое пленки при достаточно низких значениях энергии лазерного импульса E. Мы связываем полученные результаты с различием в коэффициентах прилипания атомов Mn и Si к подложке Al 2 O 3 в процессе их осаждения и сильным отличием постоянных решеток MnSi и подложки Al 2 O 3 (около 10% [10]). Такие особенности системы способствуют росту более мелких кристаллитов при высоких скоростях осаждения MnSi, приводя к формированию однородной по толщине ВТ ФМ-фазы.…”
Section: заключениеunclassified
“…Благодаря большой доле ионов в лазерной плазме [2] метод ИЛО обеспечивает высокую скорость зародышеобразования и позволяет прецизионно регулировать скорость роста пленок, что дает возможность напылять чрезвычайно тонкие сплошные пленки [3]. Существенную роль при импульсном лазерном осаждении тонких пленок играет энергетический спектр ионов [4,5] и нейтральных частиц лазерного факела [6,7], что оказывает влияние на характеристики получаемых пленок. Метод ИЛО дает возможность понизить температуру кристаллизации пленок благодаря высокой энергии частиц в лазерной плазме и обеспечивает сохранение О.А.…”
unclassified