2020 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT) 2020
DOI: 10.1109/vlsi-dat49148.2020.9196286
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Fault-Aware ECC Techniques for Reliability Enhancement of Flash Memory

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“…En el caso de [26], y utilizando códigos Reed-Solomon, se definen también diferentes niveles de protección. Otro ejemplo similar se puede ver en [27], en el que también se definen varios niveles de error, y a cada nivel se aplica un ECC distinto. En estos dos últimos ejemplos, el número de bits de paridad varía a medida que se necesita una mayor tolerancia a fallos, lo que implica que cuando se detecta un error, se tiene que recodificar el bloque de datos.…”
Section: Trabajos Previos De Tolerancia a Fallos Adaptativaunclassified
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“…En el caso de [26], y utilizando códigos Reed-Solomon, se definen también diferentes niveles de protección. Otro ejemplo similar se puede ver en [27], en el que también se definen varios niveles de error, y a cada nivel se aplica un ECC distinto. En estos dos últimos ejemplos, el número de bits de paridad varía a medida que se necesita una mayor tolerancia a fallos, lo que implica que cuando se detecta un error, se tiene que recodificar el bloque de datos.…”
Section: Trabajos Previos De Tolerancia a Fallos Adaptativaunclassified
“…Esta configuración está inspirada en trabajos como los presentados en [25][26][27] [28], donde los autores dividen la memoria en bloques y, en función de un mapa de bloques de fiabilidad calculado previamente, asignan un ECC diferente a cada bloque. Por ejemplo, en [26] y [27] se cambia de ECC en función de la tasa de errores, mientras que en [28] cada ECC tiene un número diferente de bits de código, dependiendo de si el bloque necesita una mayor o menor protección contra errores. En nuestro ejemplo, todos los ECC tienen el mismo número de bits redundantes.…”
Section: B Modelos Vhdl Utilizadosunclassified