Electron yield X ray absorption spectroscopy at atmospheric pressure

Abstract

The electron yield at atmospheric pressure for X ray absorption spectroscopy is a new technique able to study the very top surface of thick samples in real environments. A combined detector has been designed at LURE which yields spectra in transmission, electron and fluorescence modes. This method offers, compare to the surface EXAFS technique, several advantages : i) possibility of studying directly thick samples without any specific preparation, ii) simplicity of the technology which does not require ultra-high vacuum and iii) high sensitivity due to the large solid angle collection. The probed thickness with this configuration is typically of the order of 300-500Å which means that thin films, implanted materials or interfaces can be studied ; preliminary results on such systems are reported. RESUME -La spectroscopie d'absorption X en détection d'électrons et à pression atmosphérique est une nouvelle technique qui permet d'étudier la proche surface d'échantillons massifs dans leurs environnements réels. Un dispositif spécial a été construit à LURE qui permet d'obtenir des spectres d'absorption X à la fois en transmission, en détection d'électrons et de fluorescence. Cette méthode, comparée à la technique d'EXAFS de surface, présente plusieurs avantages : i) possibilité d'étudier directement des échantillons épais sans aucune préparation spéciale, ii) technologie simple qui ne fait pas appel à l'ultra-vide et iii) grande sensibilité due au grand angle solide de collection. La profondeur sondée étant de l'ordre de 300-500Â, des films minces ou des matériaux implantés ou encore des interfaces peuvent être étudiés avec cette technique. Des résultats préliminaires obtenus avec de tels systèmes sont discutés.

Study of the lattice sites of Ti and Ni impurities in LiNbO3single crystals, by means of X-ray absorption spectroscopy

“…X-rays were monochromatized using a Si(311) two-crystal spectrometer. The fluorescence was detected using a plastic scintillator attached to a photomultiplier [21].…”

Eu K-XAFS of europium dioxymonocyanamide with the conversion He+ ion yield method

“…It is well known that the CEY-XAFS is a powerful tool for analyzing local structure of near surface for not only thin films but also bulk materials (Kordesch & Hoffman, 1984;Guo & L.DenBoer, 1985;Bouldin, et al, 1987;Elam, et al, 1988;Elam, et al, 1989;Tourillon, et al, 1989;Galen, et al, 1990;Jiang & Crozier, 1990;Jacuer, et al, 1990;Kemner, et al, 1992;Choi, et al, 1992;Mimault, et al, 1994;Schroeder, et al, 1995;Stern, et al, 1995;Regnard, et al, 1996;Nai~el, et al, 1998;Takahashi, et al, 1998). The complementarity is found between the CEY-XAFS and the FLY-XAFS, another widely used technique as the yield technique; the latter leads a bulk information if a grazing incident technique is not applied and concerns the radiative decay of the core hole while the Auger electron, ejected in the non-radiative decay process, is detected in the former.…”