1998
DOI: 10.1109/68.681476
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Electrical and optical characteristics of n-type-doped distributed Bragg mirrors on InP

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“…The top mirror was realized using pdoped SiO 2 -Si reflectors. A year later, in 1998, Dias et al reported the growth of InGaAsPInP, AlGaInAs-AlInAs and AlGaAsSb-AlAsSb based DBRs on InP substrates to achieve reflectivities up to 99.5% (Dias et al, 1998). Soon afterward, in 1999, Boucart et al extended their previous work to demonstrate the room temperature CW operation of a 1.55μm VCSEL.…”
Section: Emergence Of Long Wavelength Vcselsmentioning
confidence: 75%
“…The top mirror was realized using pdoped SiO 2 -Si reflectors. A year later, in 1998, Dias et al reported the growth of InGaAsPInP, AlGaInAs-AlInAs and AlGaAsSb-AlAsSb based DBRs on InP substrates to achieve reflectivities up to 99.5% (Dias et al, 1998). Soon afterward, in 1999, Boucart et al extended their previous work to demonstrate the room temperature CW operation of a 1.55μm VCSEL.…”
Section: Emergence Of Long Wavelength Vcselsmentioning
confidence: 75%
“…Observamos que mesmo com um número relativamente pequeno de períodos (20,5), obtivemos uma alta refletividade, quando comparado a outros sistemas, como InGaAsP/InP ou AlGaInAs/AlInAs (DIAS et al, 1998). O número pequeno de períodos permite a preparação de espelhos de Bragg com menor espessura e com menor tempo de crescimento.…”
Section: Discussão E Conclusõesunclassified
“…A espessura total do espelho de Bragg estudado é de 4,518 µm. Este é um valor inferior ao utilizado em espelhos de Bragg com a mesma refletividade fabricados com ligas de outros materiais semicondutores como por exemplo InGaAsP/InP (DIAS et al, 1998). Devido ao menor contraste do índice de refração, para se obter uma refletividade de ∆n ≅ 0,27 na liga InGaAsP/InP, é necessário preparar o espelho de Bragg com 40,5 períodos, levando a uma espessura total de 9,472 µm .…”
Section: Discussão E Conclusõesunclassified
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