Aus Kupfereinkristallen, die fur Einfachgleitung orientiert und im Zugversuch verformt worden waren, wurden diinne Folien verschiedener Orientierung hcrausprapa,riert und im, Elektronenmikroskop durchstrahlt. Die Kristalle waren nach der Verformung im Reaktor bestrahlt worden, urn Verariderungen der Veraetzungsanordnung nahrend des Praparierens zu erschweren. I m Verfestigungsbereicli I1 wird gefunden, da8 die Versetzungen des primaren Gleitsystems auf wohldefinierten Gleitebenen liegen. Es bilden sich etwa in der Orientierung der Stufenversetzungen des Hauptgleitsysteins eindimensionale Versetzungsstrange aus, die eine groI3e Anzahl von Versetzungsdipolen enthalten. Die neben den Strangen liegenden Einzelversetzungen haben iiberwiegend dnsselbe Vorzeichen. E s werden Wechselwirkungen zwischen relativ langen Versetzungslinien sekundarer Gleitsysteme und den Versetzungen des primlren Gleitsystems beobachtet. I m Bereich I11 findet man scheibchenformige flache Gebiete geringer Versetzungsdichte, die von Wanden hoher Versetzungsdichte sowohl des primiren als auch der sekundLren Gleitsysterne umgeben sind. Die Scheibchen sind parallel zur Hauptgleitebene orientiert. Der Zusammenhang mit a.nderen Untersuchungen und rnit der Verfestigungstheorie wird kurz diskutiert. E s wird gezeigt, daG die Beobachtungen der vorliegenden Arbeit mit dem schon fruher ausfuhrlich untersuchten Gleitlinienbild gut iibereinstimmen.