Be/Al-based multilayer mirrors with improved reflection and spectral selectivity for solar astronomy above 17 nm wavelength

This paper presents the first results of systematic studies of beryllium as a material for multilayer mirrors (MLM) and transmission filters (TF) for the EUV spectral range. The objective for the study is the need for the increase in reflectivity and spectral resolution of MLMs for studying the Sun's corona. We investigated Mo/Be (working wavelength is 13.2 nm), Be/Al and Be/Si/Al (17.1 and 30.4 nm) multilayers, as well as free-standing Be films. It was shown that the Be-containing MLMs have significant advantage in reflectivity while their spectral pass-band is similar to beryllium-free MLMs. Observation of the MLMs in the course of 20 months has not revealed any significant decrease in the reflection coefficient. Effect of the silicon interlayers on reflectance of Be/Al MLM is explained. Investigation of a free-standing beryllium filter of the 160 nm thickness showed that its mechanical strength is approximately at the same level as that of the aluminum filter with the same thickness. There is also high stability of the transmittance.

show abstract

“…The fitting procedure is described in Ref. [23]. The experiments were done on a Philips X'Pert Pro four-crystal diffractometer.…”

Section: Methodsmentioning

confidence: 99%

Beryllium-Based Multilayer Mirrors and Filters for the Extreme Ultraviolet Range

Nikolay

Alexey

Andrey

et al. 2019

j nanosci nanotechnol

View full text Add to dashboard Cite

show abstract

“…of the 'sensitivity' of the reflection curve to the differences in the smearing functions is already satisfied at > 0:5=4 nm À1 ¼ 0:125 nm. In fact, the effective transition layers in real structures are broader; the most common values of lie within the limits 0.2-1.5 nm (Andreev et al, 2009;Haase et al, 2016;Chkhalo et al, 2017).…”

Section: Influence Of Interlayer Shape On X-ray Reflectivitymentioning

confidence: 99%

Extended model for the reconstruction of periodic multilayers from extreme ultraviolet and X-ray reflectivity data

et al. 2017

View full text Add to dashboard Cite

An extended model for the reconstruction of multilayer nanostructures from reflectometry data in the X-ray and extreme ultraviolet ranges is proposed. In contrast to the standard model approach, where the transitional region is defined in advance as a specific function, the transition layer is sought as a linear combination of several functions at once in the extended model. This allows one to describe a much wider class of multilayer structures with different dominant physical mechanisms for the formation of transition regions. The extended model occupies an intermediate position between the classical model approach and the so-called model-free methods. The efficiency of the described method is illustrated in detail in numerical simulations and in a real experiment on the annealing of a multilayer Mo/Be mirror.research papers

show abstract

“…Для этой спектральной области оптимальными покрытиями являются Be/Si/Al. Они одновременно обладают и рекордными коэффициентами отражения (до 61%) и высокой (FWHM ≈ 0.4 nm) спектральной селективностью [13]. Этот тип покрытия обладает так же высокой временной стабильностью: наблюдения за рентгенооптическими характеристиками в течение 20 месяцев не обнаружили в пределах экспериментальной ошибки изменения коэффициента отражения и положения брэгговских пиков [14].…”

Section: регистрация корональной плазмыunclassified

Применение Новых Типов Многослойных Зеркал Нормального Падения Для Целей Солнечной Спектроскопии Вакуумного Ультрафиолетового Диапазона

Кузин¹,

Рева²,

Богачев³

et al. 2020

Журнал Технической Физики

View full text Add to dashboard Cite

В настоящее время достигнут значимый прогресс в многослойных зеркалах нормального падения ВУФ диапазона спектра. В первую очередь, это касается повышения коэффициента отражения на рабочей длине волны, уменьшения спектральной ширины кривой отражения, появления высокоэффективных МС покрытий для коротковолнового (3-9 nm) и длинноволнового (более 50 nm) участков спектра. Создание таких зеркал открывает новые возможности для проведения астрофизических исследований Солнца, так как узкие спектральные ширины зеркал в сочетании с высоким коэффициентом отражения позволяют регистрировать изображения солнечной короны в монохроматических линиях. Особенно перспективным является использование телескопов на базе этих зеркал для динамической спектральной диагностики полного диска Солнца методом изображающей спектроскопии. Метод основан на регистрации монохроматических изображений Солнца в линиях ВУФ диапазона спектра с высоким пространственным и временным разрешением. Обсуждается возможный прогресс в солнечных исследованиях с применением этого типа оптики. Ключевые слова: солнечная корона, изображающая спектроскопия.

show abstract

Be/Al-based multilayer mirrors with improved reflection and spectral selectivity for solar astronomy above 17 nm wavelength

Cited by 56 publications

References 23 publications

Beryllium-Based Multilayer Mirrors and Filters for the Extreme Ultraviolet Range

Beryllium-Based Multilayer Mirrors and Filters for the Extreme Ultraviolet Range

Extended model for the reconstruction of periodic multilayers from extreme ultraviolet and X-ray reflectivity data

Применение Новых Типов Многослойных Зеркал Нормального Падения Для Целей Солнечной Спектроскопии Вакуумного Ультрафиолетового Диапазона

Contact Info

Product

Resources

About