Automatic Generation of Functional Coverage Models from Behavioral Verilog Descriptions

Verma, Shireesh; Harris, Ian G.; Ramineni, Kiran Kumar

doi:10.1109/date.2007.364407

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“…Currently, there are many chip functional verification method for automatically generating incentives based on genetic algorithms, which are mostly used in classical genetic algorithm (Simple Genetic Algorithm, SGA). Such as: the use of genetic algorithms analyze critical signal path coverage stimulus generation method [4], the use of genetic algorithms by analyzing functional coverage, automatically generate incentives to improve functional coverage methods [5], functional coverage points automatically extracted from the code method [6]. These stimulus generation methods, and are based on several experiments, gradually come to optimum genetic parameters, which greatly increases the cost of verification time, reducing the simulation efficiency.…”

Section: Coverage-driven Genetic Algorithm Ideasmentioning

confidence: 99%

Adaptive Genetic Algorithm Verification Technology Driven by Functional Coverage

Shi

Wang

2014

AMM

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With the increasing of Chip integration and operation velocity, the gap between validation and design is becoming larger and larger. Now the focus is on generating efficient test vector. Different weights are appropriately set based on the relationships between the code logical depth of function test points and the test points covered by a test vector. A test vector generation method based on adaptive genetic algorithm is proposed. The experimental results show that the method can reduce the time of writing constraint files, auto-generate a stimulation, which is more efficient and targeted, and improve the efficiency and reliability of the chip functional verification.

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Section: Coverage-driven Genetic Algorithm Ideasmentioning

confidence: 99%

Adaptive Genetic Algorithm Verification Technology Driven by Functional Coverage

Shi

Wang

2014

AMM

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“…Para auxiliar o engenheiro de verificação na obtenção do modelo de cobertura funcional, alguns estudos têm sido realizados onde são propostos modelos como o de Verma et al (9), baseado na análise das dependências entre as variáveis, e de Fallah et al (10), baseado em técnicas de observabilidade. O primeiro modelo gera, pelas dependências, condições que devem, ou não, ser observadas, como se fossem asserções.…”

Section: Motivaçãòunclassified

“…Para ilustrar a metodologia proposta, o exemplo da ; 1. Para o espaço amostral de X: [2,4], [5,8], [9,12], [13,16], [17,20].…”

Section: Metodologiaunclassified

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Ferramenta CAD para extração de modelo de cobertura de saída por itens em verificação funcional.

Quispe¹,

Iván²

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Todo trabalho tem um começo e um método para chegar ao fim. Este caminho está cheio de obstáculos eé parte do crescimento tanto profissional como pessoal. Mas todo crescimento na vida precisa de um guia, um orientador. Neste caso, eu fico agradecido com o Prof. Dr. Wang Jiang Chau, primeiro por confiar em mim e me aceitar como seu orientando e segundo por me guiar no meus primeiros passos como cientista. Ao Prof. Dr. Marius Strum por ser também um guia, mas sobretudo ser como um pai e um amigo. A minha família, quem sempre me guiou ainda na distância, somente separados pela cordilheira e pelo mato da selva. Mas isso nãoé obstáculo para nosso carinho. A meu tio José Julian por me ajudar com os aspectos do visto. Esta ajuda me permitiu começar uma nova etapa na minha vida, a qual está sendo fechada com este documento, obrigado por tudo. Ao governo do Brasil e a CNPq pela bolsa de mestrado outorgada para mim para a realização desta pesquisa. Esta bolsaé simbolo de um país que procura crescer tecnologicamente. Um agradecimento especial a meu amigo Mario Raffo, pela amizade, mostrada há 6 anos; a pessoa que me ajudou desde o começo e segue me ajudando. Ele se converteu num irmão eàs vezes num pai. A minha "mãe" Izabella pela ajuda brindada para mim, obrigado por ser quemé e por desenhar um sorriso nas pessoas e, em algumas, deixar a mente mais "brilhante".

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Simulation time reduction techniques for computationally intensive algorithms

Qadri¹,

Waris²,

Mohyuddin³

et al. 2016

2016 13th International Bhurban Conference on Applied Sciences and Technology (IBCAST)

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Automatic Generation of Functional Coverage Models from Behavioral Verilog Descriptions

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Adaptive Genetic Algorithm Verification Technology Driven by Functional Coverage

Adaptive Genetic Algorithm Verification Technology Driven by Functional Coverage

Ferramenta CAD para extração de modelo de cobertura de saída por itens em verificação funcional.

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