The platform will undergo maintenance on Sep 14 at about 7:45 AM EST and will be unavailable for approximately 2 hours.
2003
DOI: 10.1103/physrevb.67.113405
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Anisotropy of optical absorption in birefringent porous silicon

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
2

Citation Types

1
17
0
2

Year Published

2005
2005
2024
2024

Publication Types

Select...
7
1

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 64 publications
(20 citation statements)
references
References 17 publications
1
17
0
2
Order By: Relevance
“…This preferential pore alignment has an important implication for the optical properties of the layers [3]. Etched Si layers electrochemically formed on p-type Si (110) wafers reveal strong in-plane birefringence [1,2,3]. Birefringent etched Si layers demonstrate properties of a uniaxial negative crystal whose optical axis lies along the [001] in-plane crystallographic direction [4].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
See 1 more Smart Citation
“…This preferential pore alignment has an important implication for the optical properties of the layers [3]. Etched Si layers electrochemically formed on p-type Si (110) wafers reveal strong in-plane birefringence [1,2,3]. Birefringent etched Si layers demonstrate properties of a uniaxial negative crystal whose optical axis lies along the [001] in-plane crystallographic direction [4].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…The reduced symmetry of the dielectric function of etched Si layers originates from the selective pore dispersion in equivalent [100] crystallographic directions. This preferential pore alignment has an important implication for the optical properties of the layers [3]. Etched Si layers electrochemically formed on p-type Si (110) wafers reveal strong in-plane birefringence [1,2,3].…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Пропускание излуче-ния, поляризованного вдоль протяженных кластерных образований, меньше, чем пропускание излучения, по-ляризованного поперек протяженных кластерных обра-зований. Заметим, что близкие нашим результаты были получены в работе [6] для пленок пористого кремния, в котором была cформирована анизотропная структура, с " вытянутыми" в одном направлении нанокристаллами. Полученные результаты авторы [6] объясняли меньшей величиной электрического поля внутри нанокристаллов в случае поляризации электромагнитной волны перпен-дикулярно вытянутому направлению нанокристаллов.…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
“…Заметим, что близкие нашим результаты были получены в работе [6] для пленок пористого кремния, в котором была cформирована анизотропная структура, с " вытянутыми" в одном направлении нанокристаллами. Полученные результаты авторы [6] объясняли меньшей величиной электрического поля внутри нанокристаллов в случае поляризации электромагнитной волны перпен-дикулярно вытянутому направлению нанокристаллов. Таким образом, анизотропия структуры нанометрового размера, показанная на рис.…”
Section: результаты и их обсуждениеunclassified
“…(Liu, 1994), a description of the distribution of the p-component of the local electric field within the quantum wells in multi-quantum well GaAs-Al x Ga 1-x As structures and the absorption band for intersubband transitions has been obtained, using a self-consistent integral equation for the local field. The development of the approach suggested for the analysis of the spectral features observed from materials based on porous structures is of particular importance (Spanier & Herman, 2000;Timoshenko et al, 2003;. These investigations largely involve extending the models used in effective medium theory.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%