2008
DOI: 10.1088/0256-307x/25/1/070
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

AlGaN-Based Solar-Blind Schottky Photodetectors Fabricated on AlN/Sapphire Template

Abstract: We report AlGaN-based back-illuminated solar-blind Schottky-type ultraviolet photodetectors with the cutoff-wavelength from 280nm to 292nm without bias. The devices show low dark current of 2.1 × 10−6A/cm2 at the reverse bias of 5 V. The specific detectivity D* is estimated to be 3.3 × 1012cmHz1/2 W−1. To guarantee the performance of the photodetectors, the optimization of AlGaN growth and annealing condition for Schottky contacts were performed. The results show that high-temperature annealing method for Ni/P… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2009
2009
2024
2024

Publication Types

Select...
6

Relationship

1
5

Authors

Journals

citations
Cited by 12 publications
(1 citation statement)
references
References 10 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…У AlxGa1-xN заборонена зона може бути змінена в діапазоні між 3.4 і 6.2 еВ шляхом зміни частки Aln в твердому розчині. Це дозволяє створити фотодіоди з довгохвильовою границею фотовідгуку у діапазоні 200 -360 нм [19]. Фотодіоди на основі SiC хоча і має високу надійність, однак карбід кремнію має ширину забороненої зони 2.9 еВ, що менше ніж у GaN, і немає можливості варіювання ширини забороненої зони як у AlxGa1-xN.…”
Section: виклад основного матеріалуunclassified
“…У AlxGa1-xN заборонена зона може бути змінена в діапазоні між 3.4 і 6.2 еВ шляхом зміни частки Aln в твердому розчині. Це дозволяє створити фотодіоди з довгохвильовою границею фотовідгуку у діапазоні 200 -360 нм [19]. Фотодіоди на основі SiC хоча і має високу надійність, однак карбід кремнію має ширину забороненої зони 2.9 еВ, що менше ніж у GaN, і немає можливості варіювання ширини забороненої зони як у AlxGa1-xN.…”
Section: виклад основного матеріалуunclassified