Впервые рассмотрено наложение эффектов разного уровня и порядков при формировании результирую-щего магнитооптического отклика от структур типа магнитофотонных кристаллов для различных длин волн падающего излучения в областях, далеких от плазмонных резонансов. Изучены вклады в магнитооптический отклик интерференционных и дифракционных явлений в максимумах различных порядков в трехмерных системах типа магнитофотонных кристаллов. Показано, что использование интегрального отклика для ана-лиза магнитооптических эффектов приводит к исчезновению интерференционных явлений. Дифракционный максимум нулевого порядка адекватно отражает магнитную составляющую магнитооптического отклика. Проведены численные оценки наблюдаемых дифракционных и интерференционных эффектов. DOI: 10.21883/JTF.2018.06.46022.2133 Введение В настоящее время одним из распространенных ме-тодов исследования магнитных и магнитооптических (МО) свойств структур, особенно в нанометровом диа-пазоне размеров, являются магнитооптические измере-ния различных характеристик, прежде всего магнито-оптического экваториального эффекта Керра (МОЭЭК). Особый интерес представляют структуры, обладающие свойством пространственной периодичности. Подобные магнитные структуры носят название магнито-фотонных кристаллов и обладают рядом уникальных свойств. При определенных условиях эксперимента в них наблюдает-ся резкий рост отклика системы на внешнее воздействие электромагнитным излучением [1,2].Особое внимание уделяется магнитным и магнитооп-тическим свойствам периодических структур микронных и субмикронных размеров различной формы, особенно точкам и полоскам. Изучение подобных массивов суб-микронных элементов является основой для разработ-ки наноструктурированной записывающей информацию среды и магнитной памяти на ее основе, в то время как взаимодействие между элементами определяет пре-делы интеграции магнитной памяти и записывающих сред. Эффекты взаимодействия между элементами в массивах гораздо меньше исследованы по сравнению с размерными эффектами. Магнитооптическая техника и, в частности, дифракционный магнитооптический эффект Керра (ДМОЭК) являются наиболее подходящими для исследования подобных явлений, поскольку они прояв-ляют высокую чувствительность к фиксации малейших изменений намагниченности тонких пленок и очень малых элементов [3]. ДМОЭК предоставляет ценную информацию о распределении намагниченности и ее анизотропии вследствие необычайной чувствительности метода к магнитным неоднородностям [3].Как правило, ДМОЭК наблюдался на периодических плоских двумерных структурах. В работах [4-9] ис-следовались металлические магнитные пленки, в кото-рых имелись периодически расположенные отверстия круглой [6], квадратной [8] и эллиптической [9] форм. При разной ориентации пленки относительно плоско-сти падения света измерялись магнитооптические петли гистерезиса (МОПГ) в различных дифракционных по-рядках. Обнаружено, что петля, измеренная на нулевом дифракционном максимуме, не обладает какими-либо особенностями, тогда как на максимумах высших поряд-ков они имеют место [8]. ...
scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.
customersupport@researchsolutions.com
10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614
Henderson, NV 89052, USA
Copyright © 2024 scite LLC. All rights reserved.
Made with 💙 for researchers
Part of the Research Solutions Family.