Es wird eine Elektronenbeugungsanordnung hoher Auflösung angegeben, die durch geringe Eingriffe aus dem AEG—ZEISS-Elektronenmikroskop EM 8 entsteht und die es gestattet, Kleinwinkel-Beugungsreflexe sichtbar zu machen, die Perioden bis über 600 Ä entsprechen. Einige Beispiele von KW-Beugungserscheinungen an orientierten und nichtorientierten Aufdampfschichten sowie an organischen Substanzen werden gezeigt. Die Beugungsdiagramme sind auf dem Leuchtschirm direkt beobachtbar und erfordern Belichtungszeiten von nur wenigen Sekunden. Auf einige Verbesserungsmöglichkeiten wird hingewiesen.

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Bei der Durchstrahlung dünner isolierender Folien mit schnellen Elektronen treten Aufladungen auf, die zwar eine elektronenmikroskopische Abbildung nicht beeinträchtigen, bei Schattenabbildung (Flimmereffekt) und bei Untersuchung von Kleinwinkel-Beugungserscheinungen aber sehr beträchtliche Störungen hervorrufen. Durch zusätzliche Bestrahlung mit langsamen Elektronen werden — je nach den Bestrahlungsbedingungen und dem vorhandenen Restgasdruck — die Aufladungen entweder beseitigt oder verstärkt, was besonders bei Schattenabbildung zu verschiedenen Erscheinungen führt, die qualitativ gedeutet werden.

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